
操作系统下的测试总线实用教程
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简介:
本书为读者提供了一套深入浅出的操作系统下测试总线的技术指导,通过丰富的实例和清晰的讲解帮助初学者快速掌握相关知识与技能。
14.1 测试总线
测试总线的开发目的是为了生产测试,在基于 FM17550 的系统设计中可以使用该配置来提升性能。通过访问 TestSel2Reg 寄存器中的 TestBusSel 位,可以选择将内部信号发送到数字接口。
表 14-1 显示了当 TestSel2Reg 设置为 07h 时的测试信号路径选择:
| 管脚 | 测试信号 | 描述 |
| ---- | ---------- | ------------------------------------------------------------ |
| D6 | sdata | 显示实际接收到的数据流 |
| D5 | scoll | 显示是否检测到冲突位(仅 106 kbit 支持) |
| D4 | svalid | 显示 sdata 和 scoll 是否有效 |
| D3 | sover | 显示接收器检测到一个停止条件(仅在 ISOIEC 14443A MIFARE 模式下生效)|
| D2 | RCV_reset | 显示接收器是否复位 |
| D1 | RFon,filtered | 显示内部射频电平检测值 |
表 14-2 是测试信号的描述:
引脚 D6-D1 的测试信号在 TestSel2Reg 设置为 0Dh 时如下所示(见表 14-3):
| 引脚 | 测试信号 | 描述 |
| ---- | ----------- | ------------------------------------------------------------|
| D6 | clkstable | 显示振荡器是否输出稳定信号 |
| D5 | clk278 | 显示振荡器的八分频输出 |
| D4 | clk27rf8 | 显示 RF 场时钟的八分频信号 |
| D3 | clkrf134 | 显示 RF 场时钟 1/3 频率的四倍 |
| D2 | clk27 | 显示振荡器输出频率 |
| D1 | clk27rf | 显示射频场时钟的两倍频率 |
当 TestSel2Reg 设置为 19h 时,测试信号路径选择如下(见表 14-5):
引脚 D6-D1 的测试信号描述如表 14-6 所示:
| 引脚 | 测试信号 | 描述 |
| ---- | ---------- | ------------------------------------------------------------|
| D6 | - | |
| D5 | TRunning | TimerIRQ 被拉高后一个时钟周期内停止 |
| D4 | - | |
| D3 | - | |
| D2 | - | |
| D1 | - | |
这些配置和信号路径的选择使得在生产测试过程中能够更好地调试和验证系统性能。
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