
微小偏移的垂直基准测量——铅直法在工程变形监测与数据分析中的应用
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简介:
本研究探讨了铅直法在工程结构变形监测中精确测定微小偏移的应用,通过建立准确的垂直基准来提高数据质量和分析精度。
7.3.3.3 偏离垂直基准线的微距离测量—铅直法
定义:以过基准点的铅垂线作为垂直基准线,通过测量目标点相对于这条基准线的水平距离(也称为偏距)来进行精确测量的方法。
生成铅垂线可以使用光学方法、光电方法或机械方法。对于偏距的测定,则可以通过使用垂线坐标仪、测尺或是传感器来完成。
例如,在两台经纬仪过同一基准点的情况下,它们形成的两个垂直平面相交所得到的直线即为铅垂线(参照图7-13)。通过精密光学垂准仪可以生成穿过底部或顶部基准点的铅垂线。如果在光学仪器中加入激光目镜,则能够产生可见的铅垂线,并且被称为激光铅直法。
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