
采用太赫兹时域光谱同步测定样品厚度与折射率
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简介:
本研究介绍了一种创新技术,利用太赫兹时域光谱法同时精确测量材料的厚度和折射率,为光学及材料科学领域提供高效解决方案。
太赫兹时域光谱(THz-TDS)技术为快速准确地测定材料在太赫兹波段的光学参数提供了一种有效工具。由于材料厚度对折射率提取精度的影响较大,而实际测量中又难以精确获得其厚度值,因此开发一种能够同时确定样品厚度和折射率的方法显得尤为重要。针对以往方法中因内部往返反射信号较弱而导致的结果不准确问题,我们改进了Duvillaret等人提出的技术,在频段计算及迭代算法方面进行了优化,从而提高了结果的准确性,并简化了操作流程。通过实验分析聚乙烯与硅片这两种典型材料的厚度和折射率参数,验证了该方法的有效性。
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