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AEC-Q100H: 2014 集成电路失效机制应力测试资格认证基础文件（完整英文电子版，共48页）

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简介：
本资料为AEC-Q100H标准的全面阐述，详述集成电路在汽车应用中的失效机制及应力测试要求。含48页完整英文内容。 这些测试旨在激发并加速半导体器件和封装中的故障产生。其目标是通过与实际使用条件相比更为快速的方式促成故障的出现。不应随意进行此类测试，并且在每个资格项目中，应仔细检查以下内容：a) 任何新的或独特的潜在故障机制；b) 这些/这些条件可能导致的实际应用情况。

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  • AEC-Q100H: 2014 集成电路失效机制应力测试资格认证基础文件（完整英文电子版，共48页）
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