本资料集为MBIST_March_C_相关算法研究论文的合集，涵盖该领域最新进展、理论分析及应用实践，适用于学术研究与技术开发。
本段落涉及多篇关于Mbist新型算法及SRAM内建自测电路设计的研究文献：
1. 陈之超的《一种Mbist新型算法March_3CL的设计》。
2. 焦慧芳的《一种基于LFSR与MARCH_C算法的SRAM内建自测电路设计》。
3. 王振宇的《一种基于SRAM内建自测试的改进型March算法设计与验证》。
4. 李大龙的《内建自测试march算法的优化研究》。
5. 邓一峰的《基于65nm工艺嵌入式存储器MBIST电路的研究》。
6. 徐金荣的《基于BIST的嵌入式存储器可测性设计研究》。
7. 申志飞的《基于March_C改进算法的MBIST设计》。
8. 邓吉建的《基于March_C算法的MBIST设计》。
9. 翟明静的《基于March_C算法的Memory_BIST设计与实现》和另一篇名为《基于March_C_算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真》的研究。
10. 刘兴辉的《基于March_C算法的RAM内建自测试设计》。
11. 张志超的《基于March_C算法的SRAM_BIST设计》。
12. 于文考的《基于March_C算法的单片机存储器测试》。
13. 郭明朝的《基于March算法的SRAM内建自测试设计与验证》。
14. 汤志的研究工作为《存储器测试算法研究与应用实现》，曾慧则探讨了改进型March算法在内存异常检测中的应用，马琪的文章讨论的是片上SRAM内建自测试的实现方法。此外还有汪坤关于静态随机存取存储器内建自测电路的设计和研究成果。
这些文献集中展示了当前学术界对于Mbist技术以及基于March系列算法优化与改进的研究成果和发展趋势。
5星
