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VLSI芯片测试技术综述 作者：李华伟

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简介：
《VLSI 测试综述-李华伟》一文全面分析了集成电路(VLSI)的质量控制标准及其未来发展方向。文章不仅回顾了 VLSI 测试的基本技术路径,还着重探讨了基于核的片上系统(SOC)的故障诊断难题,并结合先进制程技术的发展趋势,对未来可能出现的新类型缺陷进行了前瞻性预测。研究发现表明,随着集成电路上特征尺寸不断缩小,电路复杂度日益提高,传统的手工调试模式难以满足现代电子产品的质量要求,因此自动化检测技术的应用已成为行业发展的必然选择。

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