半导体晶圆测试

简介：
简介：半导体晶圆测试是指在集成电路制造过程中对晶圆进行的一系列电气性能检测，确保每个芯片都符合设计规格和质量标准。 在晶圆制造完成后，进行的一项至关重要的测试是整个生产过程中的关键环节。这项测试旨在评估每个芯片的电气特性和电路功能。此阶段被称为“die sort”或“wafer sort”。 在这一过程中，晶圆被固定在一个带有真空吸力的工作台上，并与一组非常细小的探针接触以进行电性检测。这些探针对准并触碰每一个焊盘（pad），然后在电源驱动下对电路进行全面测试和数据记录。整个过程由计算机程序控制，确保了精确性和效率。 这项工作的主要目的是三方面的：首先，在晶圆被送往封装工厂之前，识别出所有合格的芯片；其次，通过这种方式来优化生产流程，并减少后续环节中的废品率。