
微电子器件的MIL-STD-883H (2010) 测试方法
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简介:
简介:本文介绍了MIL-STD-883H(2010)标准下的微电子器件测试方法,涵盖环境应力筛选、机械和电气性能评估等内容。
美国军用微电子器件测试方法标准涵盖环境测试、极限应力试验以及鉴定试验等内容。
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简介:
简介:本文介绍了MIL-STD-883H(2010)标准下的微电子器件测试方法,涵盖环境应力筛选、机械和电气性能评估等内容。
美国军用微电子器件测试方法标准涵盖环境测试、极限应力试验以及鉴定试验等内容。


