
JESD22简介概要
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简介:
JESD22是JEDEC标准的一部分,提供了一系列用于微电子器件的环境应力测试方法,旨在评估材料及组件在不同条件下的性能和可靠性。
AEC-Q100 是针对集成电路应力测试认证的失效机理的标准,包括以下十二种测试方法:
- AEC-Q100-001 邦线切应力测试
- AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试
- AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试
- AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试
- AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆耐久性、数据保持及工作寿命的测试
- AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试
- AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级
- AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR)
- AEC-Q100-009 电分配的评估
- AEC-Q100-010 锡球剪切测试
- AEC-Q100-011 带电器件模式静电放电测试
- AEC-Q100-012 适用于12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
AEC-Q101 是汽车级半导体分立器件应力测试认证,包括以下六种测试方法:
- AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试
- AEC-Q101-002 机械模式静电放电测试
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