
Rombist是集成电路面试中不可或缺的可测性设计方法。
5星
- 浏览量: 0
- 大小:None
- 文件类型:None
简介:
随着半导体工艺的不断进步,可测性技术已然成为芯片设计过程中不可或缺的考量因素。因此,如何高效且高质量地对芯片内部嵌入的存储器进行测试,已成为差分技术(DFT)领域中至关重要的研究课题。本文将对rombist中用于生成内存模型算法及其结果进行深入分析和总结,并提供实际案例的具体剖析与技术细节,期望能够为广大读者的面试准备和职业发展提供有益的参考。
全部评论 (0)
还没有任何评论哟~


