
相位测量偏折术中获取高质量条纹
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简介:
在相位测量偏折术中,相位误差主要来源于CCD相机的随机误差和由于结构光照明光源与CCD相机之间存在非线性响应所引起的系统性误差。基于相位误差产生机制进行理论分析,构建了条纹质量与相位误差、相机镜头光圈数、编码条纹的周期、调制度等因素之间的数学模型。通过仿真计算和实验验证该模型的有效性与适用性。理论结果表明,条纹对比度与其所用相机的光圈值呈正相关关系;而条纹的正弦性则与相机光圈值以及编码条纹周期之间呈现反比关系。基于此条纹质量评价模型,能够科学合理地优化系统参数配置,从而获得高质量的条纹图像。该评价模型不仅适用于当前的面结构光三维测量技术,还具有广泛的应用前景,可以推广至其他相关测量方法中使用。
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