
SOC芯片设计与测试探究
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简介:
本研究聚焦于SOC(系统级芯片)的设计及测试技术探讨,旨在解决集成度高、功能复杂的现代芯片面临的挑战,提升其性能和可靠性。
摘要:SOC已成为集成电路设计的主要趋势。由于其复杂性增加,在进行SOC测试的同时必须考虑DFT(可测性设计)和DFM(可制造性设计)。本段落以一个具体的SOC单芯片系统为例,探讨了在设计、测试以及生产过程中的考量,并详细介绍了针对该系统的SOC测试解决方案及设计理念。
引言:
过去的系统设计通常会将CPU、DSP、PLL、ADC、DAC或Memory等电路分别作为独立的IC进行开发后组合成完整的系统。然而,在现代的设计方法中,这些功能模块直接整合在同一颗芯片上或是购买来自不同供应商的IP(知识产权),然后将其集成在一起,这种技术被称为单片片上系统(SOC)设计方式。采用SOC的方式大大降低了高昂的研发和制造成本,但同时给测试带来了更大的挑战。
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