优化DFT设计测试覆盖率的可靠途径。

简介：
随着现代大规模集成电路制造工艺的飞速进步，设计工程师不得不面对芯片制造过程中可能出现的物理缺陷。目前广泛采用的可测试性设计（DFT：DesignForTestability）应运而生，并且在确保芯片的合格品率方面发挥着日益关键的作用。 在DFT设计中，测试覆盖率和测试效率是至关重要的衡量指标。一方面，设计人员自然期望测试能够覆盖整个芯片的逻辑功能，尽管实现理想的100%覆盖率通常难以达成；另一方面，测试效率同样至关重要，设计工程师总是希望通过最少的测试向量来达到预期的测试覆盖率，从而降低芯片的测试成本。 当然，DFT设计必须以保证芯片正常的逻辑功能为基础。然而，功能设计往往会疏忽一些潜在的问题，导致最终的测试覆盖率往往...