数字IC设计面试题目集，18页，约15000字
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简介：
《数字IC设计面试题目集》收录了涵盖数字集成电路设计领域的经典及最新面试题，共18页，约15,000字，是应届毕业生和技术求职者准备面试的宝贵资料。
当招聘数字IC设计岗位时，可能会问到以下问题。以下是一些常见问题及其参考答案：
1. 请简要介绍数字IC设计的基本流程。
参考答案：数字IC设计的基本流程包括需求分析、架构设计、RTL（寄存器传输级）设计、验证、综合、布局布线和后端验证。
2. 什么是时序分析？在数字IC设计中的作用是什么？
参考答案：时序分析是评估电路在不同输入情况下的时钟周期、延迟以及是否满足特定的时序约束。其目的是确保整个系统能够正常工作，并且符合规定的时间要求。
3. 解释时钟抖动的概念及其对设计的影响。
参考答案：时钟抖动指的是时钟信号中的不规则波动，这可能导致电路出现错误的定时行为。它会影响系统的稳定性和可靠性，进而可能造成设备故障或性能降低等问题。
4. 什么是DFT（可测试性设计）？为什么在数字IC设计中重要？
参考答案：DFT是一套为了提高芯片可检测能力和维护性的技术措施和设计方案集合，包括扫描链、边界扫描技术和压缩等方法。通过这些手段可以在生产过程中更有效地发现并解决潜在的问题，从而降低成本同时保证产品的质量与可靠性。因此，在数字IC设计中实施DFT是非常重要的一步。
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