
JTAG 标准符合 IEEE STD 1149.1-2013 (高清,非扫描版,包含目录)。
5星
- 浏览量: 0
- 大小:None
- 文件类型:None
简介:
IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture,通常简称为JTAG,是一套广泛应用于集成电路设计和测试领域的国际标准。它定义了一种用于访问和测试芯片内部电路的架构,通过在芯片上添加特定的端口,实现对芯片功能的便捷访问和诊断。该标准的核心在于其边界扫描 (Boundary Scan) 技术,它允许工程师在不直接接触芯片内部电路的情况下,对其进行测试、校准和验证。JTAG标准提供了详细的接口规范、协议以及设备配置方法,从而确保了测试过程的可靠性和一致性。 此外,该标准还为芯片的设计者提供了灵活的工具和技术支持,极大地提高了芯片的测试效率和质量。
全部评论 (0)
还没有任何评论哟~


