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4-ADC—双ADC（同步规则）_STM32_ADC_同規_

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简介：
本资料介绍如何在STM32微控制器中使用两个ADC（模数转换器）进行同步规则操作，实现高精度的数据采集和处理。 STM32F103 的双重 ADC 同步规则模式采集实验利用了两个 ADC 同时采样一个或多个通道的机制。这种模式相比独立模式的一个主要优势在于提高了采样率，弥补了单个 ADC 采样速度不足的问题。

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  • 4-ADC—双ADC（同步规则）_STM32_ADC_同規_
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    本资料介绍如何在STM32微控制器中使用两个ADC（模数转换器）进行同步规则操作，实现高精度的数据采集和处理。 STM32F103 的双重 ADC 同步规则模式采集实验利用了两个 ADC 同时采样一个或多个通道的机制。这种模式相比独立模式的一个主要优势在于提高了采样率，弥补了单个 ADC 采样速度不足的问题。
     
  • STM32中双重ADC同步规则模式采样实验
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    本实验介绍在STM32微控制器上通过配置双重ADC模块实现同步规则模式下的多通道采样，并分析数据采集过程中的性能优化技巧。 独立模式的ADC采集在一个通道完成采集并转换后才会开始下一个通道的采集。而双重ADC机制则使用两个ADC同时采样一个或多个通道。相比独立模式，双重ADC模式的最大优势在于提高了采样率，弥补了单个ADC采样速度不足的问题。
     
  • 基于STM32F4的定时器触发双ADC多通道同步规则采样
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    本项目介绍如何利用STM32F4微控制器配置定时器触发两个独立ADC进行多个输入通道间的同步采样技术。 基于STM32F4定时器3的TRGO溢出中断触发双ADC多通道规则同步采样，并通过DMA的TCIF中断接收处理ADC采样数据。此代码已在项目中经过测试。
     
  • 【STM32】HAL库应用: 双ADC同步规则模式+DMA+外部触发+自动注入示例
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    本项目演示了如何使用STM32 HAL库实现双ADC同步采集，在规则通道与自动注入通道间切换，并通过DMA传输数据，支持外部触发功能。 使用STM32F103C8T6单片机与Keil MDK 5.32版本进行开发。 ADC1和ADC2都设置为单一转换模式，其中ADC1的规则通道外部触发源设定为定时器3的TRGO事件。该TRGO信号由定时器3的更新事件产生，并且每500毫秒发生一次，因此ADC每隔500毫秒进行一次转换。 对于ADC1而言，开启两个规则通道和两个注入通道。具体来说，规则通道按顺序为：通道0（PA0）与通道1（PA1），而注入通道则遵循相同的序列安排。 同样地，对于ADC2也开启了两个规则通道及两个注入通道。其具体的转换序列为：规则通道上首先使用PA1作为第一个，随后是PA0；在注入频道中，则按照PAA和PA0的顺序进行设置（原文中的“PAA”可能是笔误）。 无论是ADC1还是ADC2，在相同位置上的所有转换时间都保持一致。例如，两个器件的通道0规则转换所需的时间是一样的。 每当任何一个规则通道完成转换后，DMA将负责从ADC_DR寄存器中提取数据，并传输到用户指定的目的地址处。 同时启用了ADC1和ADC2的自动注入功能；对于ADC2而言，还特别开启了其注入通道转化完成后触发中断的功能。在每次转换结束后，在相应的回调函数内通过串口输出所采集的数据信息。
     
  • STM32F103八路ADC同步测量代码
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    本项目提供STM32F103系列微控制器上的八路模拟输入信号同步采集程序设计，适用于需要多通道高精度数据采集的应用场景。 这段代码用于STM32F103C8T6同时测试8路ADC并通过串口打印结果。引脚为PA0至PA7，可以在adc配置中调整同时测试的ADC数量以及选择不同的测试模式。
     
  • STM32F407双ADC同步采样及TIM3触发DMA中断存储
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    本项目介绍如何使用STM32F407微控制器实现两个ADC的同时采样，并通过定时器TIM3触发DMA中断来高效地将数据传输到内存中。 STM32F407 使用双ADC同步采样并通过TIM3触发进行数据采集，利用DMA中断将采集的数据存储起来。该程序基于战舰开发板，并从安富莱的代码改写而来，可以直接使用而无需修改配置。通过USART1以115200波特率输出结果。此程序主要用于交流信号的采样。
     
  • AD7606 8通道16位同步ADC例程
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    AD7606是一款高性能8通道16位同步ADC，适用于多路信号采集和处理。本例程展示了其在数据采集系统中的应用及编程方法。 基于STM32F4系列单片机的AD7606八通道16位同步ADC例程。
     
  • 基于JESD204B的多ADC同步技术综述
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    本文综述了JESD204B标准下的多ADC同步技术，探讨其在高速数据转换系统中的应用与挑战，为相关研究提供参考。 使用JESD204B同步多个ADC可以有效提高数据传输的效率和可靠性。该协议通过减少所需的物理连接数量来简化高速数据采集系统的硬件设计，并且能够提供低延迟的数据路径，这对于高性能信号处理应用至关重要。此外，它还支持灵活的配置选项，使得不同采样率和通道数的需求得以满足。
     
  • STM32 ADC同步模式下的相位差测量
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    本文章介绍在STM32微控制器中利用ADC同步模式进行信号相位差测量的方法和技术细节。通过精确捕获和比较两个信号的采样值，实现高精度相位测量。适合电子工程爱好者及专业人士参考学习。 STM32 ADC同步模式测量相位差是一种在嵌入式系统中常见的技术，常用于信号处理和分析。这里使用的控制器是STM32F407VET6，这是一款高性能、低功耗的微控制器，具有强大的ARM Cortex-M4内核。STM32F4系列的ADC功能强大，支持多种工作模式，包括同步模式，使得它适合执行复杂的信号测量任务。 在同步模式下，STM32的多个ADC可以同时开始转换，确保不同通道之间的输入信号在同一时刻被采样。这对于比较时间关系和计算相位差非常有用。配置此模式需要设置适当的寄存器参数，例如多通道配置、采样时间、转换序列以及触发源等。 在本项目中，我们关注的是GPIO口PA1和PA4，这两个引脚连接了待测的正弦波信号源。通过将这些通道配置为ADC同步模式，我们可以获取两路信号的数字化样本。采集到的数据经过快速傅里叶变换（FFT），从时域转换至频域表示。FFT是数字信号处理中的关键算法，能揭示信号的频率成分。 相位差计算的关键在于找到两个信号在频谱图上的对应峰值，并通过它们的位置确定相对相位关系：如果一个信号的峰值位于另一个信号右侧，则前者滞后；反之则超前。具体相位差值通常用角度或弧度表示，并需要利用复数的相位角来比较两个信号的频域结果。 项目可能包括以下内容： 1. **代码示例**：配置ADC同步模式、执行FFT运算以及计算相位差的C语言代码。 2. **配置文件**：如STM32 HAL库中的参数设置，用于定义ADC和GPIO特性。 3. **数据处理脚本**：使用Python或其他编程语言编写的，对采集的数据进行FFT分析及相位差计算。 4. **测试程序**：验证系统功能与性能的软件工具。 5. **文档资料**：详细说明项目的实现过程、理论背景和技术细节。 通过这个项目的学习，开发者可以掌握STM32 ADC的操作方法、同步模式配置技巧、FFT运算原理及其应用，并学会如何从数字信号中提取相位信息。这些技能对于从事嵌入式系统设计和开发，特别是在信号处理与通信领域具有重要价值。
     
  • Cube配置定时器2启动双ADC同步采样及DMA传输
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    本项目介绍如何在Cube环境中为微控制器配置一个定时器以启动两个ADC的同步采样，并通过DMA进行数据传输，提高采集效率。 本项目旨在使用Cube生成一个程序，在STM32L476RGT6单片机上通过定时器触发ADC1和ADC2的同步采集，并利用DMA进行数据传输。具体而言，采用定时器2来控制ADC采样周期，调整定时器2的时间间隔可以改变ADC的采样频率。 对于STM32系列微控制器来说，在使用ADC时需考虑其完成一次转换所需总时间包括了采样时间和转换时间两部分：即“ADC完成采样时间 = 采样周期 + 12个转换周期”。例如，当ADC时钟为15MHz且设定的采样周期是3个周期，则总共需要15个周期来完成整个过程（因为有3次采样的需求加上固定的12次转换），换算成实际的时间就是1微秒。 针对STM32L476RGT6型号，其ADC时钟频率为32MHz。根据官方文档和相关技术资料，在这种情况下最小的可选采样周期是2.5个ADC时钟周期。