高性能平面子孔径拼接算法探究

简介：
简介：本文深入探讨了高性能平面子孔径拼接算法，旨在提高图像处理中的分辨率和细节表现力，适用于天文观测、医学影像等多个领域。 对平面子孔径拼接累积误差的理论分析及数值仿真表明，参考镜面形的拼接重叠区域局部斜率差和直流偏差是产生累积误差的原因。为了提高大口径平面光学元件子孔径拼接检测精度，提出了一种简单有效的可以减小子孔径拼接测量累积误差的方法：采用第4项和第6项泽尼克像差拟合一个假设的准参考镜面形，并从每个子孔径测量结果中将其去除。最后通过该方法合成全口径面形。 实验以一块尺寸为450毫米×60毫米的平面镜为例，进行了8个子孔径拼接检测。在采用上述方法前后的比较结果显示，在移除准参考镜面形后，其拼接测量结果与Zygo公司24英寸（即600毫米）口径干涉仪的结果偏差峰谷值从λ/7减小到了λ/100。 拟合的准参考镜面形误差为0.02λ（PV值），这一数值与标准镜面形的误差处于同一量级，因此可以认为其对每个子孔径测量结果的影响是可以忽略不计的。实验表明，本段落提出的方法能够有效控制拼接累积误差，并提高检测精度。