
数字测试基础知识(DC、AC、O/S、功能)
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简介:
本课程涵盖数字电路(DC)和模拟电路(AC)的基础知识,以及操作系统(O/S)原理,并深入讲解电子产品的基本功能测试方法。
数字测试基础
1.DUT(Device Under Test)是指需要进行测试的半导体器件,也常被称为“被测器件”或UUT(Unit Under Test)。我们先来了解一些关于器件引脚的基本知识:在数字电路中,引脚可以分为信号、电源和地三部分。
其中,“信号”包括输入、输出、三态和双向四类:
- 输入:这类管脚在外部信号与内部逻辑之间起到缓冲作用;它感应到的电压会被转化为“0”或“1”的电平。
- 输出:此类管脚在芯片内的逻辑电路与外部环境间起着缓冲的作用;它们提供正确的逻辑“0”或“1”的电压,并且具备适当的驱动能力(电流)。
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