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微波介质陶瓷介电常数的闭式谐振腔法测量.pdf

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简介:
本文介绍了使用闭式谐振腔技术精确测量微波介质陶瓷介电常数的方法,并探讨了该方法的应用和优势。 本段落介绍了一种利用封闭式圆柱形微波谐振腔测量微波介质陶瓷及其他低损耗材料介电常数的方法。通过模式匹配技术解决了电磁场问题的精确求解,建立了腔体谐振频率与材料介电性能之间的关系。实验结果表明,该方法相较于传统手段具有更高的准确度(可达0.1%)和更宽广的应用范围,不仅适用于高介电常数的微波介质陶瓷,也适合低介电常数的交联聚苯乙烯、聚四氟乙烯等材料。由于封闭腔体无辐射损耗且金属表面电流损耗小,此方法在测量低损耗材料Q值及损耗角时更为精确,下限可达10-6以下。该技术适用于介电常数εr=1~100及以上范围内的各种材料,并能准确测定tanσ为从1×10-3到1×10-6的损耗角正切值。

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    本文介绍了使用闭式谐振腔技术精确测量微波介质陶瓷介电常数的方法,并探讨了该方法的应用和优势。 本段落介绍了一种利用封闭式圆柱形微波谐振腔测量微波介质陶瓷及其他低损耗材料介电常数的方法。通过模式匹配技术解决了电磁场问题的精确求解,建立了腔体谐振频率与材料介电性能之间的关系。实验结果表明,该方法相较于传统手段具有更高的准确度(可达0.1%)和更宽广的应用范围,不仅适用于高介电常数的微波介质陶瓷,也适合低介电常数的交联聚苯乙烯、聚四氟乙烯等材料。由于封闭腔体无辐射损耗且金属表面电流损耗小,此方法在测量低损耗材料Q值及损耗角时更为精确,下限可达10-6以下。该技术适用于介电常数εr=1~100及以上范围内的各种材料,并能准确测定tanσ为从1×10-3到1×10-6的损耗角正切值。
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