
基于STM32的激光扫描测距仪(连续扫描生成点云图像)
5星
- 浏览量: 0
- 大小:None
- 文件类型:None
简介:
本项目设计并实现了一款基于STM32微控制器的激光扫描测距设备,能够连续扫描环境并生成精确的点云图像数据。
扫描激光测距仪具有以下参数:
- 每秒5次扫描
- 每转180次测量(角分辨率为2度)
- 最大距离为4米
- 测量精度约为3至5厘米,具体取决于反射表面的颜色
该设备采用三角法进行物体的距离测量。相关资源包括详细的教程介绍、源代码、硬件设计、电路PCB和机械结构等资料。这个项目适合大学本科生用作毕业设计参考,同时也适用于创业项目的启动以及大型课程设计或学校及省级相关的科研项目申请等场景。
全部评论 (0)
还没有任何评论哟~


