基于单片机与FPGA的频率特性测试仪设计

简介：
本项目提出了一种基于单片机和FPGA技术的频率特性测试仪的设计方案，旨在实现高精度、多功能的信号分析功能。通过集成硬件电路和软件算法优化，该仪器能够有效测量各种电子元件及系统的幅频与相频响应，并具备良好的人机交互界面，适用于科研、生产和教学等多领域应用需求。 1 引言 频率特性是网络性能的直观反映。频率特性测试仪能够测量网络的幅频特性和相频特性，并显示相应的曲线，是一种快速、方便且动态直观的测量仪器，在电子工程领域中应用广泛。 该测试仪以扫频外差为基本原理，通过单片机和FPGA构成控制系统，可以对有源双T网络进行频率在100 Hz到100 kHz范围内的幅频响应和相频响应特性的测试，并实现在通用数字示波器上同时显示这两项特性曲线。 2 系统设计方案 2.1 总体方案 本设计采用单片机与FPGA结合的方式。输出频率可调的正弦信号作为扫描信号源，输入到被测网络中，则该网络的输出信号为频率连续变化的形式。