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三极管的失效模式与其运作机制。

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简介:
三极管的失效效能模式及其内在机制。失效模式表现为塑料管体以及芯片均出现了裂纹,并且三个极端都呈现短路状态。造成这种失效的原因是由于在应用过程中,芯片由于过度发热而产生损坏。芯片和塑料管体的裂纹是由过热所引起的,导致过热的潜在原因可能在于偏置电压或电流超过了其正常工作范围,从而使得三极管自身承受过载。

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  • MOS原理及差异
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