SOC测试方法
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简介：
SOC（System On Chip）测试方法是指针对集成在一个芯片上的完整系统进行功能验证、性能评估及故障检测的一系列技术手段和流程。
SOC测试方法
1.1 放电动态测试
所需设备：BMS、充满电的电池包及充放电设备。
测试步骤：
1. 使用1c电流进行放电，持续时间10分钟，并计算出安时量。
2. 进阶测试中，可以改变电流值（例如先以0.3c放电3分钟后转为0.5c再放电3分钟，最后使用1c继续放电3分钟），并分别记录每个阶段的安时量。
3. 查看程序计算出的结果。
4. 将实际测量得到的数据与程序计算结果进行对比，以评估精度。
充电动态测试步骤：
1. 使用1c电流进行充电，持续时间10分钟，并计算出安时量。
2. 进阶测试中可以调整电流值（例如先以0.3c充电3分钟后转为0.5c再充3分钟，最后使用1c继续充3分钟），并分别记录每个阶段的安时量。
3. 查看程序计算得到的结果。
4. 将实际测量的数据与程序结果进行对比，评估精度。
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