
探针卡(Prober Card)简介及测试硬件介绍
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简介:
探针卡是一种用于半导体晶圆测试的关键部件,它在测试过程中负责与芯片上的焊盘进行接触,传递电信号。本文将详细介绍探针卡的工作原理及其配套测试硬件的构成和功能。
探针卡是晶圆测试过程中连接被测芯片与测试机的关键部件,在前期的开发阶段以及后期量产过程中的良率保证方面都至关重要。以下是几种常见的探针卡类型:
1. 刀片式(Blade Type):适用于引脚数少于70个、低速及需要低温或高温极端环境下的电流检测和射频测试(频率超过3GHz)。刀片式的成本较低,生产周期短,仅需一天。这种类型的探针卡结构稳定且抗干扰性能好,特别适合用于RF测试。
2. 环氧树脂式:适用于引脚数少于1000个、大型面积的应用场合。
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