
IC验证与UVM验证平台,涵盖DPI、寄存器模型、断言及覆盖率等特性,实现DUT 100%覆盖率
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简介:
本课程深入讲解IC验证技术及其UVM验证平台应用,包括DPI通信、寄存器建模、断言方法学和覆盖率收集策略,致力于达成设计模块的全面测试与验证。
DUT为倍数放大模型,功能正常,并带有可选择的BUG。参考模型使用C和C++两种语言编写,通过dpi和SV进行通信。包含完整的VUM验证组件。
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