关于可测试性设计及ATPG的简介

简介：
本简介探讨了可测试性设计（DFT）及其在集成电路中的应用，并详细介绍了自动测试图案生成(ATPG)技术，旨在提高电路测试效率和覆盖率。 可测试性设计与ATPG介绍： 可测试性设计是一种在硬件系统开发初期就考虑提高其测试性的方法。通过采用特定的设计策略和技术手段，可以使得电路更容易被检测到潜在的故障并进行修复或替换。这不仅有助于提升产品的质量，还能降低生产成本和维护费用。 其中一种重要的技术是应用自动测试模式生成（ATPG）来辅助实现可测试性设计的目标。利用该工具能够自动生成用于检查目标器件内部结构是否符合预期工作的测试用例，并能有效发现那些传统方法难以识别的隐蔽缺陷。因此，在现代集成电路的设计流程中，将可测试性原则融入到芯片架构当中已成为不可或缺的一环。