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STDF库:STDF解析工具库

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简介:
简介:STDF库是一款专业的STDF文件解析工具库,提供高效便捷的数据处理功能,适用于半导体测试数据的分析与管理。 Semi-ATE的STDF(标准测试数据格式)库并非旨在成为万能解决方案!人们经常寻找“最快”的STDF解析器;如果您这样做,并最终碰壁的话,可能需要重新考虑您的选择。 编写一个快速解析器通常意味着要放弃大量检查和校正才能真正实现速度提升。并且可能会忽略一些信息,这些信息在后续分析中被证明是至关重要的。然而,在现实生活中,STDF文件往往不够完善,这意味着即使最快的解析器也可能无法满足预期的工作需求! 即便您对某个特定的ATE系统进行了调整以适应环境中的数据交互,这仍然不能解决所有问题!总而言之,在需要与数据进行互动时再去解析STDF文件已经太迟了……这样做会使您的工作变得非常低效(更不用说在现代技术环境中显得过时)。 一个优秀的解析器应该是用高级语言编写的,并且要执行大量的检查和校正,同时不会忽略任何信息。

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客服
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  • STDFSTDF
    优质
    简介:STDF库是一款专业的STDF文件解析工具库,提供高效便捷的数据处理功能,适用于半导体测试数据的分析与管理。 Semi-ATE的STDF(标准测试数据格式)库并非旨在成为万能解决方案!人们经常寻找“最快”的STDF解析器;如果您这样做,并最终碰壁的话,可能需要重新考虑您的选择。 编写一个快速解析器通常意味着要放弃大量检查和校正才能真正实现速度提升。并且可能会忽略一些信息,这些信息在后续分析中被证明是至关重要的。然而,在现实生活中,STDF文件往往不够完善,这意味着即使最快的解析器也可能无法满足预期的工作需求! 即便您对某个特定的ATE系统进行了调整以适应环境中的数据交互,这仍然不能解决所有问题!总而言之,在需要与数据进行互动时再去解析STDF文件已经太迟了……这样做会使您的工作变得非常低效(更不用说在现代技术环境中显得过时)。 一个优秀的解析器应该是用高级语言编写的,并且要执行大量的检查和校正,同时不会忽略任何信息。
  • STDF-View查看
    优质
    STDF-View是一款专为半导体测试数据设计的数据解析与可视化软件工具。它能够高效解析STDF文件,并提供直观的数据展示和分析功能,帮助工程师快速定位生产中的问题,优化测试流程。 半导体测试数据log文件(如STDF格式)的查看软件可以用来浏览STDF中的test table,并生成散点图、直方图等功能。此外,该软件还可以将数据导出为Excel表格。关于更详细的信息,请参考我的另一篇文章《STDF-View》简介。
  • 个人开发的全面功能STDF文件STDF TOOL
    优质
    简介:STDF TOOL是一款专为个人开发者打造的强大解析工具,能够高效处理和分析半导体测试数据标准(STDF)文件,提供全面的功能支持和灵活的数据查看、编辑及导出能力。 个人开发了STDF文件解析软件 STDF TOOL,最初是为了方便公司同事查看stdf文件而编写,使用的是Python语言。有兴趣的用户可以测试一下这款全功能工具。关于该工具的简单介绍可以在提供的链接中查看。
  • NEDA STDF版本12.132
    优质
    NEDA STDF分析工具版本12.132是一款专为半导体行业设计的数据解析软件,能够高效处理和分析STDF格式数据,优化测试流程并提升产品质量。 NEDA STDF分析工具 V12.132 的安装程序提供了为期一个月的试用期。用户可以在 Help - License - Activate Online 选项中在线获取30天的试用授权。
  • JavaSTDF文件分
    优质
    本项目专注于使用Java语言开发解析STDF(Standard Test Data Format)文件的功能,旨在为半导体测试数据分析提供高效解决方案。通过精确提取与解读STDF格式数据,助力用户实现复杂的数据处理和报告生成任务。 ### Java解析STDF文件 #### 引言与背景 随着半导体行业的快速发展,测试数据的标准化变得尤为重要。在这一背景下,STDF(Standard Test Data Format)作为一种被广泛接受的标准格式应运而生。它旨在提高不同制造商之间的数据兼容性和可移植性。本段落将详细介绍如何使用Java语言解析STDF文件,并探讨其数据结构、解析方法以及具体应用。 #### STDF文件概述 STDF文件主要用于存储半导体测试数据,是一种二进制文件格式,包含了多种不同类型的数据记录。这些记录按特定的顺序排列,用于表示不同的测试结果和信息。每个数据记录都由头部信息和实际数据两部分组成,头部信息包括数据长度(5字节)、数据类型(1字节)和子类型(1字节)。 #### 数据记录详解 STDF文件中的数据记录可以分为多种类型,每种类型都有其独特的含义。以下是一些常见的数据记录及其解释: - **FAR (File Attributes Record)**:文件属性记录,标识文件的版本等基本信息。 - 数据类型:1 - 子类型:1 - 位置:文件开头 - **PCR (Part Count Record)**:部件计数记录,记录测试过程中的合格与不合格数量。 - 数据类型:5 - 子类型:1 - 位置:跟随FAR之后 - **HDR (Header Record)**:头部记录,包含测试设备的信息。 - 数据类型:2 - 子类型:1 - 位置:跟随PCR之后 - **PTR (Pin record)**:管脚记录,用于记录测试中使用的管脚信息。 - 数据类型:10 - 子类型:1 - 位置:可选记录 - **SBR (Site Configuration Record)**:站点配置记录,描述了测试站点的配置。 - 数据类型:6 - 子类型:1 - 位置:可选记录 - **PSR (Pin Site Map Record)**:管脚站点映射记录,指示了哪个管脚连接到哪个测试站点。 - 数据类型:11 - 子类型:1 - 位置:可选记录 - **PGR (Part Grade Record)**:部件等级记录,指示了测试后的部件等级。 - 数据类型:12 - 子类型:1 - 位置:可选记录 - **MRR (Master Results Record)**:主结果记录,汇总了测试结果。 - 数据类型:13 - 子类型:1 - 位置:可选记录 - **SDR (Setup Description Record)**:设置描述记录,描述了测试设置。 - 数据类型:2 - 子类型:2 - 位置:可选记录 - **PIR (Pin Information Record)**:管脚信息记录,提供了有关管脚的详细信息。 - 数据类型:10 - 子类型:2 - 位置:可选记录 - **PDR (Part Description Record)**:部件描述记录,描述了被测部件的信息。 - 数据类型:3 - 子类型:1 - 位置:可选记录 - **HBR (Header Bank Record)**:头部银行记录,用于分组多个HDR记录。 - 数据类型:2 - 子类型:3 - 位置:可选记录 - **STR (Site Test Record)**:站点测试记录,记录了每个测试站点的具体测试结果。 - 数据类型:4 - 子类型:1 - 位置:可选记录 #### Java解析STDF文件 为了能够解析STDF文件,我们需要编写Java程序来逐条读取并处理这些记录。定义一个基础类`StdfRecord`,用于存储通用信息。接着为每种数据记录定义具体的子类,如`FARRecord`、`PCRRecord`等。 ##### 示例代码 下面是一个简单的Java类定义示例,用于处理 `FAR` 记录: ```java public class FARRecord extends StdfRecord { private byte fileVersion; private byte headerLength; public FARRecord() { super(1, 1); // 设置数据类型和子类型 } @Override public void read(byte[] data) { this.fileVersion = data[0]; this.headerLength = data[1]; } @Override public String toString() { return FARRecord{ + fileVersion= + fileVersion + , headerLength= + headerLength + }; } } ``` ##### 主程序流程 1. 打开STDF文件。 2. 逐行读取数据记录。 3. 根据记录的数据
  • NEDA STDF使用手册.pdf
    优质
    《NEDA STDF 分析工具使用手册》是一份详尽指南,旨在帮助用户掌握STDF数据格式解析与分析。书中涵盖了从基础操作到高级功能的各项内容,并提供了丰富的实例和案例研究,助力半导体测试数据分析的效率提升与问题解决。 NEDA是一个优秀的STDF分析工具,功能强大且易于使用。这里提供的是NEDA的完整版使用手册,其中对工具的各项功能进行了详细的介绍。
  • STDF Extractor
    优质
    STDF Extractor是一款专为半导体测试数据处理设计的软件工具。它能够高效解析和提取标准测试数据格式(STDF)文件中的关键信息,便于质量控制与数据分析。 STDF Viewer可以将数据从STDF格式提取到Excel中。
  • STDF文件转换为CSV文件,STDF转CSV
    优质
    本工具用于将半导体测试数据格式(STDF)文件高效转换成CSV文件,便于数据分析与处理。提供简便快捷的数据导出方案,适用于各类电子行业和研究机构。 本程序用于全量解析STDF文件并转换为CSV格式,适用于64位Windows操作系统(如需Linux版本,请通过邮件联系)。 版本:0.0.9(2018年9月13日) 性能表现:每秒处理速度在17MB到33MB之间(具体取决于解析的二进制文件大小及电脑CPU性能)。支持解析25种不同类型的STDF数据。使用步骤如下: 第一步,打开配置文件stdparser.json; 第二步,在该配置文件中填写待解析的STDF文件绝对路径; 第三步,保存并退出配置文件; 第四步,双击运行stdfparser.exe程序; 第五步,在ret文件夹内查看解析结果。 此外,请注意:在未修改配置文件中的待解析文件路径前,您可以直接通过双击程序来测试内置的一个STDF样本段落件。如果您需要生成test_limits、wafer_map或raw_data等特定数据列表,则可以使用在线工具进行操作(具体网址请自行查找)。若有任何问题反馈欢迎邮件联系开发者。
  • STDF V4 2007 Spec
    优质
    STDF V4 2007 Spec是半导体测试数据格式(STDF)规范版本,用于半导体制造行业中的测试数据交换与存储,发布于2007年。 本段落介绍了STDF V4 - 2007规范,即标准测试数据格式。该规范包括前言和目录,并旨在为测试数据的交换提供一种标准化格式。适用于半导体制造业,可用于收集、存储及分析测试数据。文章主要阐述了此规范的内容及其应用范围。
  • 用于Windows的STDF和ATDF互转
    优质
    本工具专为Windows系统设计,旨在实现半导体测试数据格式(STDF)与应用程序测试数据格式(ATDF)之间的高效转换,助力提升测试数据分析效率。 压缩包内包含三个文件:stdf.dll(主要库文件)、atdfstdf.exe(用于将ATDF转换为STDF的工具)以及 stdfatdf.exe(用于将STDF转换为ATDF的工具)。使用方法如下: 1. 将压缩包解压到一个目录。 2. 打开命令提示符,进入上述目录。 3. 使用 `stdfatdf.exe stdf_file_path` 命令来实现从 STDF 到 ATDF 的转换。其中,`stdf_file_path` 是你的STDF文件的完整路径。 4. 使用 `atdfstdf.exe atdf_file_path` 命令来将ATDF格式转回为STDF格式。同样地,`atdf_file_path` 应替换为你需要转换的 ATDF 文件的具体位置。