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数字系统的可测试性设计

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简介:
《数字系统的可测试性设计》一书专注于讲解如何在系统设计阶段集成高效的测试方法,确保硬件易于验证和维护。 数字系统可测性设计包括开发过程中的时延测试和敏化测试。

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    《数字系统的可测试性设计》一书专注于讲解如何在系统设计阶段集成高效的测试方法,确保硬件易于验证和维护。 数字系统可测性设计包括开发过程中的时延测试和敏化测试。
  • WSN组网与研究
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    本项目致力于WSN(无线传感器网络)组网可靠性的测试系统设计与研究,通过创新方法提高网络稳定性及数据传输效率。 WSN组网可靠性测试系统的设计与研究主要关注无线传感器网络(WSN)的可靠性和测试方法。作为一种广泛应用在环境监测、建筑安全及医疗保健领域的无线技术,WSN的稳定性直接影响其应用效果,因此对其进行可靠性的验证是确保长期稳定运行的关键步骤。 文章首先介绍了该系统的总体设计思路。核心在于如何高效地进行多个传感节点间的通信测试,并保证数据传输的质量和实时性。由于PC机串口资源有限,需要一种方法来扩展这些接口以支持更多的连接需求。传统的RS232通信方式在距离与速度上无法满足WSN的测试要求,因此设计了一种集线设备——SCIHUB集线器,通过硬件级联的方式延长传输范围,并解决了节点间的通信冲突问题。 该系统中的有线通信硬件部分利用SCIHUB集线器将多个RS232信号汇总至单一总线上,实现与PC机的直接连接。此设计确保了信号传递的质量和稳定性,并能够支持长达30米的有效距离及级联扩展功能。此外,集线器采用了USB接口进行串行通信,并实现了电平转换(即从RS232到TTL以及反向),以适应不同设备间的兼容性需求。 无线通信硬件部分则依赖于ZigBee节点的应用作为WSN测试系统的中心环节。通过软件配置,这些节点被划分为路由器和普通节点两种类型:路由节点负责收集数据并通过串口发送给PC机;而普通节点执行数据采集、无线通讯及命令操作任务。PC端利用异步通信协议与ZigBee设备交互,并借助USB转串行装置完成电平转换,以满足不同硬件间的要求。 为了实现高效的数据处理和测试结果分析,设计了专门的PC机通信测试软件来将收集到的信息存储至数据库中,并在联网情况下通过网页界面扩展上层应用功能。该系统利用有线与无线两种方式对WSN进行综合性可靠性验证;数据经由集线设备转换为可识别信号后传输给计算机端,再通过特定程序校验无线和串口数据的一致性以评估网络性能。 总体而言,这一测试系统的开发涵盖了硬件设计、软件编程及通信协议的应用。具体包括了SCIHUB集线器与ZigBee节点的构造方案以及PC机上的相关应用程序的设计实现。其目标在于通过构建一个辅助检测平台来集中处理WSN中的数据采集传输和存储任务,并对网络性能进行实时评估,从而提高了测试效率并增强了数据通信的安全性,成为推动WSN技术实际应用的重要环节。
  • 硬件
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    简介:本课程聚焦于硬件可靠性工程的核心要素,涵盖故障模型分析、寿命预测及验证策略,旨在培养学员掌握系统级与组件级测试方法,以确保产品长期稳定运行。 可靠性测试通常基于行业标准或国家标准进行,如电磁兼容试验、气候类环境试验、机械类环境试验以及安规试验等。此外,企业还会根据自身产品特点及对质量的理解开发特定的测试项目,例如故障模拟测试、电压拉偏测试和快速上下电测试等。
  • 集成电路与验证方法学
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    本书《数字集成电路的可测试性设计与验证方法学》系统地介绍了如何在数字IC设计中实施有效的可测试性技术,涵盖了从理论基础到实践应用的全面内容。 本段落对数字集成电路的可测性设计及验证方法学进行了简要介绍,涵盖了测试基础、语言以及工具等方面,并阐述了其意义。主要内容包括:可测性基础知识、用于支持可测性的设计工具、验证的重要性及其相关的方法学和工具体现。
  • VLSI方法与
    优质
    《VLSI测试方法与可测性设计》一书深入探讨了超大规模集成电路(VLSI)的测试技术和可测性设计原则,为确保现代复杂芯片的质量和可靠性提供了理论和技术支持。 一本很好的学习VLSI测试的书是《VLSI测试方法学和可测性设计》。
  • VLSI方法与
    优质
    《VLSI测试方法与可测性设计》一书专注于非常大规模集成电路(VLSI)的设计验证及测试技术,涵盖了最新的研究进展和实用技巧。适合电子工程专业的研究生、研究人员及工程师阅读参考。 本书系统地介绍了超大规模集成电路(VLSI)的测试方法学及可测性设计,旨在为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析奠定坚实的基础,并在电路的设计、制造、测试与应用之间建立一个相互交流的平台。书中主要内容涵盖电路测试与分析的基本概念和理论,数字电路描述及模拟方法,组合电路与时序电路的测试生成方法,专用可测性设计,扫描技术与边界扫描原理,IDDQ测试以及*和伪*测试原理等。此外还探讨了各种测试生成电路结构及其序列之间的关系、其他相关测试生成方法、内建自测度(BIST)原理及数据压缩技术和不同应用领域的可测性设计方法。 本书适合集成电路设计、制造与测试专业人员,EDA工具开发工程师以及ATE设备专家作为参考书使用;同时亦适合作为高等院校高年级学生和研究生的专业教材。
  • 频率特(2015年)
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    本论文探讨了数字频率特性测试仪的设计方法与实现技术,旨在提升电子设备中信号处理和分析的精度与效率。通过详细分析现有技术的局限性,提出了一种创新设计思路,并利用MATLAB进行仿真验证,最终制作出原型机并通过实验测试,证明该仪器具有良好的性能和应用前景。 我们设计了一种基于正交调制原理的数字频率特性测试仪。该系统采用稳态响应法来测量电路的频率特性。单片机作为主控芯片负责系统的总体控制及数字信号处理;同时使用集成直接数字频率合成芯片输出全频段内的正弦波。通过采集待测电路输入信号及其相应输出,并进行数字信号处理,我们能够获得该电路的幅频特性和相频特性。 在利用此测试仪对一个RLC网络进行测量时,中心频率相对误差小于0.2%,有载品质因数的相对误差则低于1.25%。此外,最大电压增益大于-1 dB。我们的测试仪输入和输出阻抗均为50Ω,并且幅频特性误差绝对值不超过0.5dB,相频特性误差绝对值不高于3°。
  • 关于及ATPGPPT
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    本PPT聚焦于可测试性设计(DFT)及其核心算法自动测试模式产生(ATPG),探讨其在提高电路板和IC测试效率与精度中的应用。 这份资料详细介绍了DFT(Design for Testability)的入门知识,包括常见的DFT模型以及Scan mode测试技术,并最终讲解了ATPG Flow的相关内容。
  • 关于及ATPG简介
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    本简介探讨了可测试性设计(DFT)及其在集成电路中的应用,并详细介绍了自动测试图案生成(ATPG)技术,旨在提高电路测试效率和覆盖率。 可测试性设计与ATPG介绍: 可测试性设计是一种在硬件系统开发初期就考虑提高其测试性的方法。通过采用特定的设计策略和技术手段,可以使得电路更容易被检测到潜在的故障并进行修复或替换。这不仅有助于提升产品的质量,还能降低生产成本和维护费用。 其中一种重要的技术是应用自动测试模式生成(ATPG)来辅助实现可测试性设计的目标。利用该工具能够自动生成用于检查目标器件内部结构是否符合预期工作的测试用例,并能有效发现那些传统方法难以识别的隐蔽缺陷。因此,在现代集成电路的设计流程中,将可测试性原则融入到芯片架构当中已成为不可或缺的一环。
  • IEEE 79节点电力
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    IEEE 79节点系统是用于评估电力系统可靠性的标准模型,本研究旨在通过该模型进行详尽的测试分析,以优化电网性能和稳定性。 电力系统可靠性测试通常会使用IEEE79节点系统作为标准模型来进行研究和分析。这一过程旨在评估电力系统的稳定性和性能,在面对不同故障场景时的表现如何。通过这种方式,研究人员可以更好地理解并改进现有电网的设计与运行机制。