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该演示文稿涉及可测试性设计以及与ATPG技术的关联。

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简介：
这份极其详尽的密度泛函理论（DFT）入门指南，深入阐述了各类常见的DFT模型，并提供了Scan mode测试技术的详细说明。此外，该资料还对ATPG流程进行了全面的介绍。

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