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半导体测试入门概述.pdf

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简介:
《半导体测试入门概述.pdf》是一份详尽介绍半导体器件测试基础知识的手册,旨在帮助初学者理解半导体产品的质量检测流程和技术要点。 超大规模集成电路的可测试性设计包括自动测试模式生成(ATPG)、内置自测(BIST)以及联合测试行动小组(JTAG)等内容。此外,还包括功能测试、直流测试、交流测试及开路/短路检测与闩锁效应的相关内容。

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    《半导体测试入门概述.pdf》是一份详尽介绍半导体器件测试基础知识的手册,旨在帮助初学者理解半导体产品的质量检测流程和技术要点。 超大规模集成电路的可测试性设计包括自动测试模式生成(ATPG)、内置自测(BIST)以及联合测试行动小组(JTAG)等内容。此外,还包括功能测试、直流测试、交流测试及开路/短路检测与闩锁效应的相关内容。
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