基础电子中100M晶振三种晶体的相位噪声对比分析

简介：
本研究深入探讨了在基础电子产品设计中常用的100MHz石英晶体振荡器（晶振）的三种不同类型晶体材料的相位噪声特性，通过实验和理论分析，评估并比较它们在高频应用中的性能表现。 在恒温晶振OCXO或温补晶振TCXO的应用中，100MHz的晶体振荡器是常见的选择。从切型与振动模式来看，常用的三种晶体包括AT切3次泛音、AT切5次泛音和SC切5次泛音。 通常情况下： - AT切3次泛音被用于制作温补晶振TCXO。 - AT切5次泛音及SC切5次泛音则多应用于制造恒温晶振OCXO。 这种选择的原因在于： 1. 在非恒定温度环境下，AT切割晶体的频率随温度变化范围（从-40℃到+85℃）比SC切割晶体的小。因此，它更适合用于温补晶振中。 2. AT切晶体具有较大的频率牵引率，这同样使其适用于制作温补晶振。 3. 经过良好设计的5次泛音AT和SC切晶体相比3次泛音的同类产品，在Q值、相位噪声性能以及老化稳定性方面表现更佳。因此，它们更适合用于制造恒温晶振。 为了研究晶体的Q值与相噪之间的关系，通常会进行相应的实验测试。