TRL微波器件测量去嵌入校准原理深度解析

简介：
本文深入探讨了TRL（传输/反射线性）微波器件测量技术中的去嵌入校准原理，旨在提高测量精度和效率。 前言：该教程是本人在2012年与安捷伦工程师讨论微波器件去嵌入技术期间准备的资料的一部分，当时的主要议题是如何解决去嵌入算法中的频率限制问题（已申请专利）。现将其中关于TRL校准方法原理的部分重新整理并分享给大家。 在微波测量中常用的两种校准方式是： - SOLT校准：即短路、开路、负载和直通校准，适用于同轴接头的测量，例如衰减器或低噪声放大器等。通过这种校准可以利用一个传输标准件以及三个反射标准件来修正十二项误差模型。 - TRL校准：即传输、反射及延时校准，适合非同轴接头的应用场景，比如微带线或者共面波导测量。它使用两个传输标准件和一个反射标准件以确定八项误差模型。 与SOLT相比，TRL由于其更低的校准件制作成本以及更高的校准精度而被广泛采用。