Digital System Testing and Testable Design

简介：
《Digital System Testing and Testable Design》是一本专注于数字系统测试及可测试性设计的专业书籍，深入探讨了如何提高集成电路和系统的可靠性与质量。 这本书专注于数字电路的测试与可测性研究，并采用设计语言进行描述。书中将测试概念、数字设计实践及方法论相结合，展示了如何利用已建立的RTL级设计方法和技术来提高数字电路的测试效果。 本书主要通过Verilog HDL模型构建测试环境，具有很强的实际应用价值。在测试部分中，作者使用了Verilog仿真器和测试平台来实现并解释故障模拟与测试生成算法。而在可测性章节，则详细介绍了各种扫描链（scan）及内置自检（BIST）方法，并利用Verilog测试台作为虚拟测试工具对这些技术进行评估。 通过这种方式，在设计阶段就可以使用Verilog测试平台来评价和改进电路的设计，从而提高其整体的可测性。