基于CMOS平板探测器的X射线全自动盘料点数机的应用

简介：
本系统采用CMOS平板探测器与X射线技术，实现对各类圆柱形物料的自动计数，广泛应用于制造业仓储管理，提高盘点效率和准确性。 X-RAY盘料点数机适用于电子行业的阻容类物料及IC类物料的计数工作。 一、基于X-Ray技术的盘料点数机与传统点料机的区别 该款设备的操作软件功能全面且易于学习，能够根据产品类型自动进行图像判断和计数；支持手动或自动将物料信息（如种类、数量）、检测时间和扫描次数等数据保存至本地数据库，并提供查询服务。此外，用户还可以选择性地存储产品的图片。 传统的盘料方法依赖于物理传感器识别封装好的电子元器件之间的差异来实现点数： 1. 原理：传统方式是通过将物料从料盘上拉出并连接到带有收料功能的装置中进行计数。这一过程利用不同类型的传感器，依据相邻元件间的区别来进行个体化的识别和统计。 2. 局限性： - 该方法耗时较长； - 在提高速度的同时可能会影响准确性； 综上所述，X-RAY盘料点数机相比传统方式具有更高的效率与精度。