基于STM32微控制器的简易电路特性测试仪.pdf

简介：
本论文详细介绍了一种基于STM32微控制器设计的简易电路特性测试仪。该设备能够便捷地测量电阻、电容及二极管等元件的基本参数，适用于电子工程教育与初阶维修场景。 本系统基于STM32单片机ADC检测技术设计而成，旨在对三极管放大电路的基本工作特性进行简易测试，并在电路出现故障时帮助定位问题并分析原因。该系统的核心是STM32单片机主控模块，通过DDS信号发生器生成所需的正弦波信号，然后经过信号调理网络输入到三极管放大电路中。此外，在放大电路的输入端串联电阻、输出端并联电阻以检测其特性，并分别测量输入和输出两端的幅值及频率数据。这些信息经单片机处理后在屏幕上显示结果。系统能够测定放大电路的输入阻抗、输出阻抗以及增益倍数，同时支持故障原因分析功能。