浅显易懂讲解高速串行信号测试（二）

简介：
本文为《浅显易懂讲解高速串行信号测试》系列文章的第二部分，深入浅出地介绍了高速串行信号测试的关键概念和技术细节，适合初学者和专业人士阅读。 高速串行信号测试是现代通信与网络领域中的关键技术之一。随着数字电路从并行转向串行以及数据速率的不断提升，抖动成为了关注的重点。 抖动在高速信号中是一个关键性能指标，定义为实际信号相对于理想时间位置上的短期偏离或误差。这种偏差在每个比特位的时间长度（即单位间隔UI）减小的情况下尤为显著，因为任何微小的时间差都可能对信号质量产生重大影响。例如，在PCIE Gen2.0标准下，100ps的峰值到峰值抖动可能会占据半个UI，从而严重影响接收端的数据采样准确性，并可能导致误码。 在实际应用中，存在多种类型的抖动，包括时间间隔误差（TIE）、周期间抖动和周期性抖动等。其中TIE是指数据信号各边沿与理想时钟信号之间的时间差异，它基于每个UI的偏差进行衡量。理想的时钟信号通常由CDR恢复得出，而CDR是高速串行系统中的关键组件之一，用于从接收到的数据流中提取并生成精确时钟信号以确保正确解码。 在测试过程中有两种主要方法来测量抖动：一种是使用示波器的基础功能进行基本的触发与分析；另一种则是利用现代示波器配备的深度存储和高级分析软件来进行详细的时间序列数据分析。后者能够将总抖动分解为随机性和确定性两部分，并提供更详尽的信息。 理解不同类型抖动及其来源对于有效解决相关问题至关重要。针对由系统特定因素引起的确定性抖动，可以通过优化硬件设计或调整参数来减少；而对于与噪声相关的随机抖动，则需要提高信号质量、增强噪声抑制能力或者采用先进的纠错技术以应对挑战。通过深入分析并控制这些因素，在高速串行通信领域可以实现更加高效和可靠的信号传输。