
半导体致冷片的制冷效果评估系统
5星
- 浏览量: 0
- 大小:None
- 文件类型:None
简介:
本系统用于评估半导体致冷片的制冷性能,通过精确测量温度变化和热流密度,为新型材料及应用优化提供数据支持。
目前评估半导体制冷元件的方法成本较高,并且输入端的水温和输出端的水温不同会导致热量损耗不一致。传统测量方法通过在不同温度下的实验结果来估算赛贝克系数、电阻和热导,这使得计算制冷量时不够精确。为此,提出了一种新的方法,在保持输入与输出温度平衡的情况下避免这些误差的发生。
全部评论 (0)
还没有任何评论哟~


