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JTAG调试原理详解(OPEN-JTAG开发小组)

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简介:
《JTAG调试原理详解》由OPEN-JTAG开发小组编写,深入剖析了JTAG接口技术及其在硬件调试中的应用,是理解和掌握JTAG标准的权威指南。 本段落主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。内容包括TAP(TEST ACCESS PORT)和边界扫描架构的介绍,并在此基础上结合ARM7TDMI详细阐述了JTAG调试的工作原理。

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  • JTAGOPEN-JTAG
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    《JTAG调试原理详解》由OPEN-JTAG开发小组编写,深入剖析了JTAG接口技术及其在硬件调试中的应用,是理解和掌握JTAG标准的权威指南。 本段落主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。内容包括TAP(TEST ACCESS PORT)和边界扫描架构的介绍,并在此基础上结合ARM7TDMI详细阐述了JTAG调试的工作原理。
  • JTAG工作
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    本文深入浅出地阐述了JTAG(Joint Test Action Group)技术的工作原理,包括其基本概念、测试访问端口(TAP)的状态机模型以及常见的调试和验证应用。适合硬件工程师和技术爱好者学习参考。 JTAG(联合测试行动组)是一种国际标准的测试协议(兼容IEEE 1149.1)。标准的JTAG接口由四条线组成——TMS、TCK、TDI 和 TDO,分别代表模式选择、时钟信号、数据输入和数据输出。 可以将 JTAG 视为一种基本的通信协议,类似于 RX TX 或 USB。不过,与这些其他通信方式不同的是,JTAG 是层级化的,在这种结构中,CPU 不再处于主导地位。相反,JTAG 协议用于控制 CPU 的操作;在这种情况下,CPU 变得服从于 JTAG 指令。 通常来说,常规的协议是请求 CPU 读取或写入特定数据的程序来执行某些功能。然而,在使用 JTAG 协议时,则是由该协议直接操控 CPU 来完成这些任务。
  • JTAG接口功能及
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    本文深入解析了JTAG接口的功能和工作原理,包括其在芯片测试、调试中的应用以及如何通过标准接口进行高效开发。适合电子工程师阅读。 本段落详细介绍JTAG原理,并列举出JTAG接口的三种作用。此外,还简单介绍了JTAG电缆的相关内容。
  • 细的USB转JTAG
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    本资源提供详尽的USB转JTAG接口电路设计图纸,涵盖硬件连接及电气特性说明。适合电子工程师和嵌入式系统开发者参考学习。 USB转JTAG的原理图非常有用,对于自制USB转JTAG来说是一份难得的资源。
  • JTAG驱动程序
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    《JTAG驱动程序详解》一书深入剖析了JTAG接口及其在硬件调试中的应用,重点讲解了如何编写高效的JTAG驱动程序。适合嵌入式系统开发者阅读。 单片机烧录方针调试工具的描述、源代码说明以及文档片段应详细填写以增加被下载的可能性。请确保提供的描述内容超过20字,这样更有助于获得推荐。
  • JTAG 图用于Xilinx FPGA
    优质
    本项目提供开源JTAG接口原理图,专为Xilinx FPGA设计,旨在简化FPGA调试与编程过程,便于开发者进行硬件在环测试和配置。 基于FT232HQ芯片制作的Xilinx-FPGA JTAG下载器原理图开源。该下载器最大速度支持30MHz,并兼容多种电平标准。
  • JLink和JTAG接口图示
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    本文详细介绍了J-Link调试工具及其JTAG接口的工作原理,并通过丰富的图表解析了它们在嵌入式系统开发中的应用。适合硬件工程师和技术爱好者参考学习。 关于JLink和JTAG接口的详细图解,在使用JTAG进行下载调试时常遇到问题,为此特意整理了相关资料。文档内包含20针和14针接口的具体图形解析。
  • JTAG下载程序工作
    优质
    JTAG下载程序是一种用于芯片调试和编程的技术,通过特定的标准接口实现硬件检测、验证及软件加载等功能。本文将介绍其基本工作原理与应用。 ### JTag下载程序原理 #### 一、概述 本段落旨在深入探讨通过JTag技术将二进制文件下载至ARM处理器的原理与实践方法。在这一过程中,我们将关注于JTag接口的基本概念及其如何与ARM处理器交互,特别是针对使用S3C2440 CPU和K9F1208 NandFlash的硬件配置。此外,我们还将通过分析JFlash源代码中的关键部分来加深理解。 #### 二、NandFlash知识 ##### 2.1 总览 **2.1.1 存储结构** NAND Flash存储单元由多个记忆单元(cell)组成,每个cell通常存储一个比特(bit)的信息。这些cell以8个或16个一组的形式连接起来形成所谓的bitline,进而组成一个byte或word,这就是NAND设备的位宽。这些bitline进一步组合成page,而多个page则构成block。例如,在K9F1208中,每个page大小为528字节,其中包括512字节的数据区和16字节的备用区(Spare Area)。每32个page构成一个block,因此: 1 Block = 32 Page = 32 * 528 Byte = 32 * (512 Byte + 16 Byte) = 16 KByte 的存储容量。 K9F1208总共可以存储64 MByte的数据(不含Spare Area): 64 MByte = 4 KBlock = 4096 * 32 * 528 Byte = 67,108,864 Byte **2.1.2 寻址** NAND Flash采用线性寻址方式,每个block都有一个唯一的地址,而每个page则在所属的block内部具有唯一编号。这种寻址机制使得能够精确地定位到每一个存储单元。 **2.1.3 管脚** NAND Flash的主要管脚包括: - **CE#(Chip Enable)**:芯片使能信号,低电平有效。 - **OE#(Output Enable)**:输出使能信号,低电平有效。 - **WE#(Write Enable)**:写入使能信号,低电平有效。 - **A0-A19**:地址输入线,用于选择特定的block和page。 - **D0-D7**:数据输入输出线,根据操作的不同进行数据交换。 - **RB#(ReadyBusy)**:就绪忙状态指示,低电平表示忙。 **2.1.4 支持的命令** NAND Flash支持以下几种基本命令: - **Read Command**:用于从指定位置读取数据。 - **Write Command**:用于向指定位置写入数据。 - **Erase Command**:用于擦除整个block中的所有数据。 - **Status Register Read**:用于读取设备的状态寄存器信息。 - **Feature Set Command**:用于设置特性寄存器值。 **2.1.5 操作时序** NAND Flash的操作时序对于正确执行命令至关重要。典型的时序包括读取时序、写入时序和擦除时序,这些时序必须严格按照制造商的数据手册中的规定执行。 ##### 2.2 实际读写源码 **2.2.1 读操作过程** 1. **设置地址**:通过地址线设置要读取的block和page。 2. **发出读命令**:发送读取命令到NAND Flash。 3. **等待就绪**:监控RB#管脚直到其变为高电平,表明设备已准备好。 4. **读取数据**:从D0-D7管脚读取数据。 **2.2.2 写操作过程** 1. **设置地址**:设置要写入的block和page。 2. **发送写命令**:发送写入命令。 3. **写入数据**:将数据通过D0-D7管脚送入NAND Flash。 4. **等待完成**:监视RB#管脚,确保写操作完成。 **2.2.3 注意事项** - 在执行任何写入或擦除操作之前,必须确保目标block处于未使用状态。 - NAND Flash的擦除操作只能按block进行,而读写操作则可以按page进行。 - 由于NAND Flash具有有限的擦写次数,在设计软件时应考虑磨损均衡算法。 #### 三、JTAG协议 **3.1 概览** **3.1.1 边界扫描** 边界扫描是一种用于测试集成电路(IC)之间互连的技术。它允许通过一个特殊的串行接口访问IC的内部测试寄存器,从而进行故障诊断。 **
  • JLINK、JTAG、ULINK与STLINK的区别
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    本文深入解析了JLINK、JTAG、ULINK和STLINK四种编程调试接口的主要区别及其应用特点,帮助开发者更好地理解和选择适合项目的调试工具。 JTAG(Joint Test Action Group;联合测试工作组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片内部的测试工作。多数高级器件都支持这种协议,例如DSP、FPGA等设备。 一个标准的JTAG接口有四条线:TMS、TCK、TDI和TDO,分别代表模式选择、时钟信号输入端口、数据输入以及数据输出线路。具有JTAG接口的芯片通常会有以下引脚定义: - TCK(测试时钟):提供测试所需的时钟信号; - TDI(测试数据输入):用于将数据送入JTAG接口; - TDO(测试数据输出):从JTAG口接收由TDI发送的数据; - TMS(模式选择线):用来设置芯片的特定工作状态。 此外,一个可选引脚为TRST,它作为低电平有效的输入信号来复位测试系统。支持JTAG接口的集成电路种类繁多,包括CPU、DSP和CPLD等类型。 在这些设备中存在一种TAP控制器的状态机机制,该机制通过TCK与TMS线进行状态转变以实现指令或数据的操作处理。