
基于TSMC 18纳米工艺的LDO电路及低压差线性稳压器设计——集成CADENCE仿真的模拟集成电路测试电路研究
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简介:
本研究聚焦于采用台积电(TSMC)18nm工艺技术设计低功耗线性稳压器(LDO),结合Cadence仿真工具,探索高性能模拟集成电路的优化与验证。
基于TSMC.18工艺的LDO电路与低压差线性稳压器设计集成了模拟集成电路的设计、Cadence仿真及测试功能于一体的研究成果。该研究涵盖了LDO电路、低压差线性稳压器电路以及采用TSMC.18工艺进行设计的内容,可以直接导入到Cadence软件中查看,并且内置了带隙基准模块。环路中的各个子模块均配备了配套的测试电路,能够直接用于仿真分析。
核心关键词如下:
LDO电路; 低压差线性稳压器电路; 模拟集成电路设计; TSMC.18工艺; 导入Cadence查看; 内置带隙基准模块; 环路子模块; 配套测试电路; 导入仿真。
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