
微通道板电性能受酸蚀影响的研究(2008年)
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简介:
本研究于2008年开展,探讨了微通道板在不同浓度酸液腐蚀下的电学性能变化规律及其机理,为改进其制造工艺提供了理论依据。
通过使用扫描电镜(SEM)、卢瑟福背散射谱(RBS)、原子力显微镜(AFM)、能量色散谱仪(EDS)以及照度计、微通道板测试台等分析工具,本段落研究了酸蚀时间对微通道板皮料玻璃表面成分、形貌和结构的影响,并探讨其在电子增益、体电阻、噪声电流及图像质量等方面电性能的变化。实验结果表明:酸蚀时间为120分钟时,微通道板的电子增益与图像亮度达到峰值;随着酸蚀时间的增长,噪声电流逐渐增加,而当体电阻降至某一水平后则趋于稳定状态。
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