
Design for Testability in VLSI: Test Principles and Architectures
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简介:
本书《VLSI可测试性设计:测试原理与架构》深入探讨了集成电路中的可测试性设计原则和方法,为工程师提供了实现高效、低成本芯片测试的技术指南。
我推荐一本关于VLSI测试的优秀英文书籍给大家!
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