GSM带内杂散(Tx Noise in Rx Band)测试步骤

简介：
本文章介绍了GSM设备中TX噪声在RX频段内的详细测试方法和步骤，旨在帮助工程师有效检测并解决信号干扰问题。 GSM（全球移动通信系统）是第二代广泛应用的移动通信标准之一，其中带内杂散测试对于确保设备性能至关重要。发射机在工作频段产生的非期望信号即为带内杂散，这些信号可能干扰接收机正常运行，影响通话质量甚至导致通信中断。 进行该测试的主要目的是评估手机（MS）在发射模式下是否会产生过多的杂散信号进入其接受频段（880 MHz到915 MHz）。如果手机产生的杂散发射过高，则会“阻塞”或降低其他接收机的灵敏度，影响链路稳定性和可靠性。 用于测试的主要设备包括： - 通用无线电通信测试仪CMU200 或 Agilent 8960：模拟基站并控制MS进行测试。 - R&S信号分析仪（SA）：测量和分析杂散信号特性。 - 直流电源Agilent E3631A或E3642A：为设备提供稳定电压供应。 - 可调滤波器，用于850/900MHz及1800/1900MHz频段以减少非必要信号干扰。 - 3dB衰减器：防止过载并调节信号强度。 - 合路器：合并多个测试信号。 在进行这些测试时，需要将温度控制为25℃，供电电压设定为3.8伏，并使用NTC监测设备的温变情况。所有上述设备通过电缆连接形成闭环系统，确保从CMU 200发出的信号经过滤波和衰减后被SA检测。 具体步骤如下： 1. 打开并预热仪器至少15分钟。 2. 连接电源、CMU200及信号分析仪等设备。 3. 设定电压至测试所需条件。 4. 在CMU 200上设定频段和参数，建立与MS的通话连接。 5. 调整SA上的滤波器设置，中心频率设为Tx频段，并调整补偿损耗值进行呼叫操作。 6. 最小化PCL（功率补偿量），同时调节滤波器以精确测量发射机带内杂散。 通过上述步骤可以有效执行GSM带内杂散发射测试。这确保了手机的信号不会干扰其他接收设备，从而保障整个网络性能和稳定性。测试结果可用于优化设计并满足通信标准要求。