
设计多时钟域并行测试控制器。
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简介:
通过融合IEEE1149中TAP控制器以及IEEE1500 wrapper的概念,我们成功开发出一种新型测试控制器,该控制器同时满足IEEE1500测试标准和IEEE1149测试标准的兼容性要求。此外,该控制器还具备了实现不同时钟域下通用寄存器并行配置的功能,从而显著减少了在多个时钟域中进行串行配置寄存器所消耗的时间,进而有效地提升了整体测试效率。仿真结果,如图中的Verdi图所示,充分表明所设计测试结构的性能已达到预期的目标。
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