本手册由TI公司编制，旨在指导消费者了解其电子产品可能产生的电磁辐射情况，并提供相关安全使用建议。
《电子产品辐射手册-TI》是德州仪器（TI）发布的一份详尽文档，主要针对电子设备在空间、工业及地面应用中的辐射问题进行了深入探讨。这份手册不仅适用于航天领域，也对地面和工业环境中的电子设计者极具价值。
手册共分为八章，内容涵盖广泛的辐射知识：
**第一章：辐射环境**
1.1 航天辐射环境：介绍了太空中各种辐射源，如太阳粒子事件、银河宇宙射线和地球辐射带，以及它们对电子设备的影响。
1.2 地球辐射环境：讨论了地球大气层对不同能量辐射的吸收和散射情况，以及地表的辐射状况。
1.3 人工辐射环境：关注由核设施、医疗设备或高能粒子加速器等产生的辐射环境。
**第二章：物质中的辐射效应**
2.1 辐射基础：解释了辐射的基本概念，包括类型、能量和剂量。
2.2 物质中的粒子相互作用：阐述了辐射粒子与物质相互作用的机制，如电离、激发等。
2.3 线性能量转移（LET）：定义了LET并探讨其在评估辐射损伤中的重要性。
2.4 辐射屏蔽：讨论了不同材料对辐射的屏蔽效果及其选择原则。
**第三章：剂量效应下的电子设备辐射效应**
3.1 总电离剂量效应：讨论了长期累积辐射剂量对电子元器件性能的影响。
3.2 撞击位移损伤：讲述了原子在高能辐射下被撞击出原有位置导致的材料性能变化。
**第四章：单事件效应**
4.1 破坏性和非破坏性单事件效应：区分了两种不同类型的效果，包括对电路功能的暂时或永久影响。
4.2 单事件瞬变：详细解释了所有单事件效应的基础——瞬态现象。
4.3 数字和模拟单事件瞬变：比较了这两种系统中的瞬变响应差异。
4.4 单事件翻转：讨论了存储元件由于单个粒子引发的状态变化。
4.5 单事件功能中断：阐述了辐射导致的系统级功能中断。
4.6 单事件锁定（SEL）：解释了如何防止和处理SEL，以保护电路不受损害。
4.7 单事件门破裂和单事件烧断：分析了这些可能导致设备失效的现象。
4.8 立即剂量效应：探讨了高剂量率辐射的即时影响。
**第五章：按技术划分的辐射敏感性**
5.1 总电离剂量：根据不同的半导体工艺和技术评估电子设备对总电离剂量的敏感度。
5.2 单事件效应：讨论了各种技术在抵抗单事件效应方面的表现。
**第六章：减轻辐射效应的方法**
6.1 偶然的辐射坚固性：探讨了设计过程中不可预见的辐射防护特性。
6.2 工艺级别的辐射硬化：介绍通过改进制造过程来提高电子设备的抗辐射能力。
6.3 设计层面的辐射硬化 - 组件配置解决方案：讨论了通过优化组件组合来增强系统抗辐射性。
6.4 设计层面的辐射硬化 - 布局解决方案：强调布局设计在减少辐射影响中的作用。
6.5 设计层面的辐射硬化 - 电路冗余解决方案：介绍了通过冗余设计提高系统的可靠性。
**第七章：辐射测试与资格认证**
7.1 总电离剂量测试：描述了测试电子设备耐受总电离剂量的方法和标准。
7.2 单事件效应测试：涵盖了检测和量化单事件效应的技术。
7.3 撞击位移剂量测试 - 中子测试：讨论了中子引起的位移损伤的测试手段。
7.4 剂量率或立即剂量测试：分析这些测试对于评估高速辐射影响的重要性。
7.5 地球表面中子和α粒子测试：介绍了地面环境下的特定测试条件。
7.6 德州仪器的辐射测试哲学：阐述了TI在辐射测试方面的方法和理念。
**第八章：德州仪器的辐射硬化产品**
本章详细介绍了TI提供的各种辐射硬化产品，包括芯片、模块和系统解决方案及其在实际应用中的表现与优势。
《电子产品辐射手册-TI》是一份全面而实用的参考资料，为电子工程师提供了理解和应对辐射影响的知识，确保设备在各种环境下的稳定性和可靠性。无论是设计、测试还是选型，手册都提供了宝贵的指导。
5星
