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低压带隙基准电压源的设计方法

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简介：
本文探讨了低压环境下设计高效能带隙基准电压源的方法，旨在提高电路性能和稳定性。 本段落提出了一种在低电压供电条件下设计带隙基准电压源电路的方法。通过改进传统的带隙基准电路，该电路能够在600毫伏的输出基准电压下保持零温度系数的要求。

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  • 低压带隙基准电压源的设计方法
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    本文探讨了低压环境下设计高效能带隙基准电压源的方法，旨在提高电路性能和稳定性。 本段落提出了一种在低电压供电条件下设计带隙基准电压源电路的方法。通过改进传统的带隙基准电路，该电路能够在600毫伏的输出基准电压下保持零温度系数的要求。
     
  • 低功耗CMOS带隙基准电压源设计
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    本项目专注于低功耗CMOS工艺下的带隙基准电压源设计，旨在实现高精度、低功耗与小面积集成，适用于各类集成电路中。 本段落首先分析了传统的带隙电压源原理，并提出了一种成本较低但性能较高的低压带隙基准电压源设计方案。通过采用电流反馈技术和一级温度补偿技术设计了适用于低电压环境的CMOS带隙基准电路，确保其能够在相对较低的工作电压下正常运行。文中详细介绍了该设计方案的基本原理和仿真结果分析。基于CSMC 0.5μm Double Poly Mix工艺流程进行了电路仿真，并获得了理想的结果。
     
  • 带隙基准电压源的设计
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    本项目专注于设计一种高精度、低功耗的带隙基准电压源。通过优化电路结构和参数选择，旨在实现温度补偿功能，确保在不同环境条件下提供稳定的参考电压。 毕业设计题目为带隙基准电压源的设计（Bandgap）。
     
  • 低功耗带隙基准电压源电路的設計
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    本项目专注于设计一种低功耗的带隙基准电压源电路，致力于提高其稳定性和温度系数，适用于各种集成电路中。 本段落提出了一种三层self-cascode管子工作在亚阈值区的低功耗带隙基准电压源电路。该电路具有结构简单、功耗低、温度系数小、线性度好以及面积紧凑等特点。采用CSMC 0.18 μm标准CMOS工艺，并利用华大九天Aether软件验证平台进行仿真。 仿真的结果显示，在tt工艺角条件下，电路的启动时间为6.64微秒，稳定输出基准电压Vref为567毫伏；当温度范围在-40℃到125℃之间时，tt工艺角下基准电压Vref的温度系数TC为18.8 ppm/°C。电源电压从1.2 V变化至1.8 V范围内时，tt工艺角下的线性度为2620 ppm/V；在频率范围从10 Hz到1 kHz内，tt工艺角下基准电压Vref的电源抑制比(PSRR)达到51 dB；版图核心面积仅为0.00195平方毫米。
     
  • 一种新颖的带隙基准电压源设计
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    本文介绍了一种新颖的设计方法，用于构建高效的带隙基准电压源。该设计优化了传统方案中的不足，实现了更高的精度和稳定性，在集成电路中具有广泛应用前景。 基于TSMC 0.5μm CMOS工艺设计了一款带隙基准源电路。与传统电压基准相比，该电路采用高增益的运算放大器进行内部负反馈，并通过嵌套式密勒补偿技术实现了低温漂、高电源抑制和低功耗的特点。仿真结果显示，该电路产生的基准电压精度为13.2×10^-6/℃，在低频时的电源抑制达到-98dB，静态工作电流仅为3μA。
     
  • 一种低温度系数低能耗的简化带隙基准电压源设计
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    本研究提出了一种创新性的简化带隙基准电压源设计方案，在低功耗条件下实现温度系数显著降低，提升电路性能稳定性。 本段落介绍了一种低温漂低功耗带隙基准电压源的设计方法，在模拟电路设计中提供一个稳定的参考电压，以确保整个电路的正常运行。该设计方案采用不受电源影响的串联电流镜作为偏置，并利用PTAT（正温度系数）电压和基极发射极电压之间的负向温度特性来构建零温漂特性的电压量。此方法避免了使用运算放大器，结构简单且原理清晰，适合初学者在短时间内理解和掌握。 实验结果表明，在0～70℃的范围内，该设计具有16.4 ppm/℃的低温度系数，并且当供电电压在5至6伏之间变化时能够达到57.7 dB的电源抑制比。此外，总输出噪声为140.3 μV，功耗仅为300.6 μW。
     
  • 关于带隙基准电压源的设计与调整方法的研究
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    本研究探讨了带隙基准电压源的设计原理及其关键参数的优化策略，并提出了一种有效的调整方法以提高其性能稳定性。 传统的带隙基准的温度系数通常在20至100 ppm/°C之间，难以达到高精度的要求。本设计使用Cadence、Hspice等工具对传统基准源电路进行改进，并最终采用放大器反馈方式的Brokaw结构，在经过修调后可以获得低于4.5 ppm/°C的温度系数以及在工业级温度范围内的误差小于±0.1%的2.5V高精度带隙基准电压源。基于上海华虹NEC公司的BCD180工艺，该设计已在Cadence环境下通过了仿真验证。 此外，我们还研究了一种适用于大规模生产的基准源温度特性修调方法，并利用控制变量法分析影响基准源温度特性和精度的参数，从而找到了基本的修调规律。
     
  • 高性能CMOS带隙基准电压源电路设计
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    本研究专注于高性能CMOS带隙基准电压源的设计与优化，致力于提升其温度稳定性、功耗效率及输出精度，在集成电路领域具有重要应用价值。 设计了一种应用于集成稳压器的高精度带隙基准电压源电路。采用共源共栅电流镜结构以及精度调节技术，有效提高了电压基准的温度稳定性和输出电压精度。通过Hynix 0.5 μm CMOS工艺仿真验证，在25 ℃时，温度系数几乎为零，电源电压变化导致的基准电压波动小于0.1 mV；在-40～125 ℃范围内，基准电压最大变化量为4.8 mV，满足设计指标要求。
     
  • 0.18μm CMOS工艺下的带隙基准电压源设计
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    本研究聚焦于采用0.18微米CMOS工艺技术优化设计带隙基准电压源，旨在提升其温度稳定性和电源抑制比，适用于高精度模拟集成电路。 在设计CMOS带隙基准电压源的过程中，需要考虑多个关键因素以确保其性能符合特定应用需求。本段落的设计师采用0.18微米CMOS工艺，并针对广泛应用的电路如AD、DA转换器、随机存储器及闪存等，开发了一款具有高稳定性和低温度漂移特性的基准电压源。文章详细阐述了带隙基准技术的基本原理、具体设计电路结构、运算放大器的设计细节以及整体电路方案和仿真测试结果。 带隙基准技术基于晶体管的VBE（基极-发射极电压）带有负温度系数，而VT（热电压）则有正温度系数。通过合理布局这些特性可以使得输出电压VRef的温度系数接近于零，从而实现高稳定性的基准电压源。这利用了半导体材料内在物理特性的优势来达到稳定的电压输出。 在设计带隙基准电路时，为了降低输出电压值，在两个晶体管支路中并联电阻元件的做法被采用。这种策略通过调节分压比确保在整个温度变化范围内保持相对恒定的输出电压水平。尽管这些外部添加的电阻本身具有一定的温度系数影响，但它们对整体性能的影响已经被最小化。 运算放大器的设计是实现这一基准电压源的关键步骤之一。理想的运放需要具备高增益、低功耗和低噪声等特点。设计师选择了普通两级结构，并通过相位补偿电路优化了其特性。仿真结果证实设计的运放开环增益良好，且具有较大的相位裕量，这保证了运放在实际应用中的稳定性和动态响应。 整体设计方案还包括启动电路的设计，以确保基准电压源在电源开启时能够迅速达到并保持稳定的输出状态。测试表明，在各种温度和输入电压变化条件下，该设计均能快速锁定到目标值，并且表现出良好的稳定性。 使用SMIC0.18微米工艺库并通过Cadence仿真软件对整个电路进行了建模与验证。结果显示，基准电压源在不同环境条件下的性能表现良好：其温度系数为5ppm/℃；电源电压从0V至5V变化时也能保持输出的稳定性不变。这些数据表明该带隙基准电压源具有出色的稳定性和适应性，特别适合于便携式设备中的应用需求。 综上所述，本段落提出的基于0.18微米CMOS工艺的带隙基准电压源设计方案满足了高精度、低温度漂移的要求，并且设计简洁成本低廉。这使得它非常适合在对功耗和尺寸有严格限制的应用场景中使用。此外，仿真测试数据进一步验证了该方案的有效性，为未来的优化提供了参考依据。