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通过采样过采样和求均值提升ADC分辨率

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简介:
本文探讨了一种提高模数转换器(ADC)分辨率的方法,通过采用采样过采样及求均值技术,有效提升了信号处理精度与质量。 本应用笔记讨论了如何通过过采样和求均值的方法来提升模/数转换器(ADC)测量的分辨率。此外,本段落最后的附录A、B和C分别提供了对ADC噪声的深入分析,包括最适合使用过采样技术的ADC噪声类型以及采用过采样和求均值技术的实际示例代码。

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  • ADC
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    本文探讨了一种提高模数转换器(ADC)分辨率的方法,通过采用采样过采样及求均值技术,有效提升了信号处理精度与质量。 本应用笔记讨论了如何通过过采样和求均值的方法来提升模/数转换器(ADC)测量的分辨率。此外,本段落最后的附录A、B和C分别提供了对ADC噪声的深入分析,包括最适合使用过采样技术的ADC噪声类型以及采用过采样和求均值技术的实际示例代码。
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    本篇教程讲解了如何使用Python进行数据预处理中的关键步骤——调整样本分布不均问题,包括过采样和欠采样技术的应用。 今天为大家分享一篇关于Python数据预处理的文章,主要讨论如何解决样本分布不平衡的问题(包括过采样和欠采样)。希望这篇文章能给大家带来一些参考价值。一起跟随我深入了解吧。
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    优质
    本文章主要介绍如何使用Python进行数据预处理,特别是针对样本分布不均匀的问题,通过过采样和欠采样的方法来平衡数据集。 样本分布不均是指在数据集中不同类别的样本数量相差悬殊的情况。例如,在一个包含1000条数据的数据集里,某一类别只有10个样本,这会导致模型无法充分学习到所有类别的特性,从而影响其性能。 为何要解决样本分布不均:这类问题常见于现实世界中的各种场景中,比如恶意刷单、黄牛订单、信用卡欺诈等。如果样本分部不均衡,则少数类的特征可能被忽略或提取不足,导致模型过度依赖有限数量的数据而产生过拟合现象,在新数据上的表现不佳。 解决方法主要有两种:过采样和欠采样。 - 过采样通过增加少量类别中的样本数来平衡各类别的分布。简单的做法是复制少数类的现有样本,但这种方法可能导致模型过分适应这些重复的样本,从而引发过拟合问题。因此可以采用更复杂的策略如SMOTE(合成少数类过抽样技术),它根据少数类及其最近邻生成新的虚拟数据点。 - 欠采样则是通过减少多数类别中的样本数来实现平衡。直接删除多数类别的某些样本可能会丢失关键信息,所以使用分层抽样的方式或者结合重要性评估方法可以保留更多有用的信息。 除了上述两种策略外,还可以通过对不同类型的样本设置不同的权重来进行调整,在训练过程中给予少数类更高的关注度;另外,集成学习技术如bagging(自助采样)和boosting(提升法)也是有效的解决方案。它们通过多次抽样与模型组合来提高预测的准确性,并且能够处理不平衡的数据集。 在Python中可以利用imblearn库中的各种算法进行过采样或欠采样的操作,例如`RandomOverSampler`、`SMOTE`和`ADASYN`用于增加少数类样本数量;而使用如`RandomUnderSampler`来减少多数类别中的数据量。通过这些技术调整后的样本分布有助于提高模型对各类别的泛化能力和实际应用的稳健性。 解决样本不均问题的关键在于选择适当的策略,优化训练过程,并且持续监控和评估模型性能以确保其稳定性和准确性。
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    本文详细解析了ADC(模数转换器)中采样时间、采样周期及采样频率的概念及其相互关系,并提供了相关的计算方法和实例。 ADC 采样涉及将模拟信号转换为数字信号的过程。在这个过程中,单片机(例如STM32)会读取转换后的数字量,但必须等到转换完成后才能进行读取操作。完成一个通道的读取称为采样周期,通常等于转换时间加上读取时间。 而转换时间则包括了采样的时间和12.5个时钟周期的时间。其中,采样时间是通过寄存器设置来指定STM32采集模拟信号所需的具体时间段,设定越长则精度越高。
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    本文介绍了如何通过配置和优化STM32微控制器中的三个独立ADC(模数转换器)来实现最高的采样速率,适用于需要高速数据采集的应用场景。 本次程序使用KEIL开放平台,硬件平台为STM32F767,并采用STM32三重ADC采样模式来提高ADC的采样率。