
USB 3.0线缆及连接器的阻抗与插入损耗测试
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简介:
本研究探讨了USB 3.0线缆和连接器的关键电气特性,包括阻抗和插入损耗的测量方法及其影响因素。通过分析确保高速数据传输的质量和稳定性。
下一代串行数据标准的传输速率已经进入了微波领域。例如,即将推出的SuperSpeed USB(USB 3.0)通过双绞线对电缆实现了5Gb/s的数据传输速度。要实现如此高的传输速率,需要特别关注连接器和电缆间的不连续性所引起的信号失真问题。为了将这种失真控制在可接受的范围内,标准规定了特定的阻抗值与回波损耗要求,并采用S参数中的S11来表征这些特性,且必须归一化至差分模式下的90欧姆线缆阻抗。
当使用TDR(时域反射计)测量USB 3.0通道的S参数时,该仪器会向待测设备发送阶跃电压信号,并记录反射回来的电压随时间的变化。对于差分信号而言,则需要生成一对极性相反且定时相对应的阶跃电压来进行测试。本段落讨论的内容主要集中在差分信号测量上。
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