STDF-V4规范说明旨在阐述半导体测试数据格式（STDF）V4版本的具体标准与规则，为芯片制造企业中测试数据的生成、处理和分析提供统一的技术指导。
STDF（Standard Test Data Format，标准测试数据格式）是一种用于不同测试系统之间交换测试结果的通用格式，旨在解决数据不兼容问题。
介绍
STDF是由Teradyne公司开发的一种测试结果数据交换格式，为了解决不同制造商和同一制造商产品线之间的ATE（自动测试设备）系统的测试结果数据互操作性不足的问题。随着ATE行业的成熟，许多供应商提供网络系统来增强其自身的测试功能，并帮助客户从他们的投资中获得更多价值。
STDF设计目标
STDF的设计目的是为了在不同的测试系统之间高效、可靠地交换和共享测试结果数据。具体的目标包括：
- 提高数据的互操作性
- 增强数据的可读性和理解度
- 降低存储成本并优化传输效率
- 确保安全与可靠性
STDF记录结构
每个STDF文件由多个不同类型的记录组成，这些记录包含了测试结果的具体信息。每条记录都包含一个头部（包括类型、长度和校验码等）、数据主体以及可能的子类型。
STDF记录类型
在STDF中定义了多种不同的记录类型来存储不同类型的数据：
- 文件属性记录 (FAR)
- 审核跟踪记录 (ATR)
- 主信息记录 (MIR) 和主结果记录 (MRR)
- 部分计数器和硬件/软件Bin等
- 测试过程中的各种状态更新如测试概要、参数测试及功能测试等
STDF文件名与顺序规则
STDF文件通常以特定的格式命名，例如使用.stdf作为扩展名。这些文件按照其类型（比如结果数据或配置信息）和记录类型的逻辑进行排序。
针脚映射记录的应用
Pin Mapping Records在描述测试点之间的对应关系方面发挥了关键作用，并且包括了针对map、组以及列表等不同形式的针脚映射定义。
STDF V4与V3的区别
作为V3版本的一个改进，STDF V4引入了一些新的数据类型和记录结构以提升灵活性及效率。这些更改使得新版标准能够更好地适应ATE技术的发展趋势，并提供了更多功能来满足现代测试系统的需要。
术语表
在讨论STDF时会用到一些特定的词汇如ATE、STDF本身及其相关的各种记录类型，了解它们是理解这一规范的关键所在。
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