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IC后端_纳米工艺VLSI物理设计与实现.pdf

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简介:
本书深入探讨了基于纳米技术的集成电路(IC)后端物理设计原理和实践方法,特别聚焦于非常大规模集成电路(VLSI)的设计与实现。适合电子工程领域的专业人士及研究生参考学习。 本段落介绍了IC设计后端纳米工艺VLSI物理设计与实现流程,涵盖了Cadence Genus综合技术、物理设计及其实现过程以及从RTL到GDSII的全流程。主要内容包括库文件(时序库和物理库)、RTL文件、时序约束文件、综合步骤、平面布局规划(芯片大小设定、IO口安排、电源配置方案制定、宏单元处理策略等),摆放布线流程,其中包括实验性布线与特殊布线,并进行真实布线。此外还包含预时钟树和后时钟树的合成过程,以及随后的时序分析和修正工作。 文中进一步探讨了电源分析的重要性及其操作方式,信号完整性分析的相关细节、金属填充步骤及物理验证流程等技术环节。最后介绍了代工厂Tapeout(流片)阶段的关键点和技术要求。

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  • IC_VLSI.pdf
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    本书深入探讨了基于纳米技术的集成电路(IC)后端物理设计原理和实践方法,特别聚焦于非常大规模集成电路(VLSI)的设计与实现。适合电子工程领域的专业人士及研究生参考学习。 本段落介绍了IC设计后端纳米工艺VLSI物理设计与实现流程,涵盖了Cadence Genus综合技术、物理设计及其实现过程以及从RTL到GDSII的全流程。主要内容包括库文件(时序库和物理库)、RTL文件、时序约束文件、综合步骤、平面布局规划(芯片大小设定、IO口安排、电源配置方案制定、宏单元处理策略等),摆放布线流程,其中包括实验性布线与特殊布线,并进行真实布线。此外还包含预时钟树和后时钟树的合成过程,以及随后的时序分析和修正工作。 文中进一步探讨了电源分析的重要性及其操作方式,信号完整性分析的相关细节、金属填充步骤及物理验证流程等技术环节。最后介绍了代工厂Tapeout(流片)阶段的关键点和技术要求。
  • 45
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    45纳米工艺库是指用于制造集成电路芯片的半导体工艺技术集合,采用此技术可大幅减小芯片尺寸并提高性能。 CMOS 45nm工艺库用于Hspice设计参考。
  • 035CMOS
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    035纳米CMOS工艺库是一款先进的半导体制造技术资源包,专为设计高效能低功耗集成电路而设,支持大规模集成与高性能计算需求。 Hspice CMOS 35的仿真工艺库。
  • DC的SMIC 180
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    本资源包包含DC工具针对SMIC 180纳米工艺技术的标准单元库,适用于芯片设计与验证阶段,助力实现高效能低功耗集成电路开发。 使用Design Compiler进行逻辑综合时采用的是smic180nm工艺库,其中包括db和idb文件。
  • 50CMOS Bsim4模型
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    50纳米工艺CMOS Bsim4模型是针对50nm CMOS技术开发的一种高级电路模拟模型。该模型详细描述了晶体管在微细化工艺下的电气特性,为集成电路设计提供精确的仿真支持。 BSIM4 在 HSPICE 中对应 level=54,在 PSPICE 中对应 level=8。
  • 前段.doc
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    本文档探讨了集成电路制造中的前段工艺(FEOL)和后端工艺(BEOL),包括材料选择、加工技术及两者之间的相互影响。适合电子工程专业人员阅读参考。 前端工艺(FEOL)与后端工艺(BEOL)是集成电路设计和制造中的两个关键阶段,它们共同决定了芯片的功能和性能。 ### 前端工艺(Front-End-of-Line, FEOL) 在集成电路中,FEOL阶段主要涉及到晶体管的制作。具体来说,这一阶段包括栅极、源漏区以及通道区的形成等步骤。这些步骤直接影响到晶体管的开关性能、速度和功耗。例如,在纳米线技术、阈值调整、源漏工程及接触孔和势垒层等关键工艺中,FEOL工艺决定了芯片的基本功能单元——即晶体管的性能。 ### 后端工艺(Back-End-of-Line, BEOL) BEOL阶段是在形成接触孔之后开始的,主要任务是构建金属互联层。这个过程涉及沉积多层互连线路,并确保电信号能够在不同部分之间有效传输。例如,在M1、V1、M2和V2等金属层中进行布线工作。此外,通过接触孔将下一层互连与上一层晶体管连接起来,同时使用绝缘材料来隔离不同的信号路径。 ### FEOL 和 BEOL 的界限 传统上,以形成接触孔为界区分FEOL和BEOL阶段;然而,在现代集成电路制造中这种划分变得越来越模糊。随着工艺技术的发展,越来越多的步骤融合在一起使得前端与后端之间的区别不再那么明显。例如,在某些先进的工艺流程里可能会在接触孔之前就开始部分互连的工作。 ### 前后道工艺的相互作用 FEOL决定了芯片的基本功能单元——晶体管的性能;而BEOL则确保这些单元能够协同工作,实现信号的有效传输和封装。因此,前道工艺完成后虽然已经具备了基本电学特性,但仍需经过后续的互连与封装步骤才能应用于实际系统集成中。 随着半导体行业的专业化分工,FEOL和BEOL逐渐成为描述不同制造流程的专业术语。尽管名称有所变化但其核心概念保持不变:前端主要涉及芯片上的微结构制造;而后端则专注于内部互联以及外部接口建立的工作。 总之,前端工艺与后端工艺是集成电路制造过程中不可或缺的两个环节,它们共同塑造了现代电子设备中的微型处理器和各种集成电路,使我们能够享受高速且低功耗的产品。
  • 中芯国际180
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    中芯国际180纳米工艺库是专为该制程设计的一系列标准单元库,涵盖多种逻辑和模拟电路模块,旨在满足高效能低功耗集成电路的设计需求。 SMIC 180 DC 综合工艺库包含70多MByte的数据,内容相对全面,适合学习使用。
  • 台积电018库tsmc018r.lib
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    tmsc018r.lib是台积电(TSMC)提供的用于其180纳米制造工艺的标准单元逻辑库,为集成电路设计提供基础组件及参数。 台积电的工艺库可供需要的同学自行下载。它包含了12个NMOS和PMOS模型。
  • 中芯国际18
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    中芯国际18纳米工艺库是针对先进半导体芯片制造推出的高精度技术资源,适用于高性能计算、移动通讯等多个领域。 SMIC0.18是用于模拟集成电路设计的库,安装后即可使用,能够帮助用户进行集成电路的设计仿真工作。