
Introduction to Failure Analysis.pptx
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简介:
本幻灯片介绍了失效分析的基本概念、方法及应用。通过案例研究和实践技巧,帮助读者理解如何识别、评估并解决产品或系统中的故障问题。
芯片失效分析流程及方法包括EMMI(Emission Microscopy)、OBIRCH(Optical Beam Induced Resistance Change)以及InGaAs(Indium Gallium Arsenide)等技术的工作原理及其应用。这些技术用于检测和定位集成电路中的缺陷,帮助工程师理解并解决芯片的故障问题。
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